中古 FEI XL 30 #293731839 を販売中

製造業者
FEI
モデル
XL 30
ID: 293731839
Scanning Electron Microscope (SEM) EDAX Detector.
FEI XL 30は、今日入手可能な主要な走査型電子顕微鏡(SEM)の1つであり、クラス最高の性能を提供します。広範な用途に優れたイメージング機能を提供するように設計されており、有機材料と無機材料の両方を精密に検査および分析することができます。XL 30には可変圧力設計が採用されており、真空の異なるレベルでの動作が可能であるため、試料から汚染物を除去することができ、高解像度の画像が得られます。ダイレクトイオン検出器(DID)は、イメージングセッションを中断することなく、試料の電荷密度を高速かつ正確に分析します。静電気レンズを備えたガルバノメーター式の対物レンズは、最大5mmの作動距離を提供し、より高い倍率で標本を観察することができます。また、デジタルイメージプロセッサを搭載し、コントラストや明るさなどのイメージングパラメータを調整して画質を最適化することができます。FEI XL 30は、高真空と低真空の両方のスキャンモードで動作するため、ユーザーは高真空の環境で破壊される壊れやすいサンプルをイメージすることができます。また、XYサンプル移動ステージ、標準自動ステージ、ロータリーサンプルステージなど、さまざまなサンプルステージを備えています。XYサンプル移動ステージは、正確なサンプル位置を可能にし、広い領域のシリアルイメージングを可能にします。自動段は、サンプルのトラバースとアプローチの動きを提供し、自動的な画像取得とナビゲーションを可能にします。ロータリーサンプルステージは、最大5つのサンプルと高精度の角度分解能を保持する能力を備えています。XL 30には、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを提供するPC制御も含まれています。このインターフェースにより、ユーザーは顕微鏡を制御し、収集されたデータにアクセスすることができます。全体として、FEI XL 30は高度な走査型電子顕微鏡であり、優れたイメージング機能、多数のサンプルステージ、およびPC制御機能をユーザーに提供します。これらの機能により、幅広い標本や材料を簡単に分析、観察、画像化することができます。
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