中古 FEI TEMLink 150 #293604494 を販売中

FEI TEMLink 150は、材料科学における非破壊試料の特性評価用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。背面散乱型電子イメージング（BEI）と二次電子イメージング（SEI）を高解像度で実現し、高解像度表面汚染解析に広く使用されています。TEMLink 150は、顕微鏡がさまざまなイメージング技術を実行することを可能にする熱源を使用して動作します。これは、室温で動作する電子源（タングステンフィラメント）を含むシングルモードガンが装備されています。この電子源は維持の条件を減らし、優秀な性能をユーザーに与えるのを助けるように設計されています。この顕微鏡は、高速で正確で再現性のある結果を得るための自動ゼロメカニズムを提供します。FEI TEMLink 150は、金属、半導体、セラミックスなど、さまざまな材料を特徴付けるために使用できる汎用性の高い機器です。その柔軟性から、ポリマーや生体試料などの有機材料のイメージングにも適しています。TEMLink 150は高解像度イメージング検出器を採用しており、幅広いオプションをユーザーに提供しています。Phase Contrast ImagingとEnergy Dispersive X線分光法（EDS）が組み込まれています。オプションのデジタル定量イメージプロセッサを使用することで、サンプルの粗さやその他の表面スタイルなどの特徴に関する定量的な情報も得ることができます。FEI TEMLink 150は、迅速なスキャン速度で優れたイメージングおよび分析機能を提供します。調整可能な傾斜角度により、試験片の特徴を複数の角度から簡単に探索できます。この試料は、複雑なイメージングのために垂直軸の周りを回転させることもできます。さらに、顕微鏡の自動ビームスキャン整列機能により、標本の測定、画像、分析を迅速に行うことができます。TEMLink 150は、傾斜可能なカラーグラフィックユーザーインターフェイスと使いやすいグラフィカルツールを備えたモダンなデザインです。また、オートバランスモードにより、顕微鏡の設定を手動で調整する必要がなくなり、目的のデータや分析に素早くアクセスできます。FEI TEMLink 150は、優れた性能と有利な機能を備えており、非破壊材料の特性評価に最適です。これは、研究者、技術者、科学者にとっても非常に貴重なツールです。