中古 FEI TEMLink 14771-003 #9298772 を販売中

FEI TEMLink 14771-003は、高解像度イメージング、解析、オートメーション用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、幅広い特徴と高度な性能を持つ研究グレードの電子顕微鏡のための費用対効果の高いソリューションです。TEMLink 14771-003には、デューティサイクルが高く、ピーク輝度が100 nanoAmps/cm2のインレンズフィールドエミッションソース（FES）が装備されています。この技術は、画像処理と自動解析において非常に高い解像度を可能にします。さらに、FEI TEMLink 14771-003には、元素分析と化学検出のための統合表面解析装置（SAXFPE）が装備されています。このシステムには、AE検出器、EDX検出器、ハイパースペクトルイメージングユニット、STEM検出器が装備されており、データの精度を最大限に高めています。TEMLink 14771-003のデザインには、その高解像度機能も含まれています。FEI TEMLink 14771-003は、長距離（35ミクロン）と高い数値開口（1。2）で、最大4 nmの解像度でサンプルの画像および分析を行うことができます。TEMLink 14771-003はまた、そのコンポーネントのソフトウェア制御を備えており、システムのリモート操作と自動化を可能にします。FEI TEMLink 14771-003には、さまざまな画像処理機能や自動機械解析プログラムも付属しています。これらのプログラムには、統計解析ツールと人工知能（AI）駆動オブジェクト分類ツールが含まれます。ツール設定の自動化は、信頼性の高い測定のために所定のイメージングパラメータとキャリブレーションを設定するために使用できます。最後に、TEMLink 14771-003はまた長期および短期実験の間に顕微鏡を安定した、安全保つための環境制御の選択を含んでいます。これには、制御された大気と湿度チャンバー、圧力と振動制御、真空アセットなどの機能が含まれます。全体として、FEI TEMLink 14771-003は、研究グレードのイメージングおよび分析に適した高性能スキャン電子顕微鏡です。高解像度イメージング、表面解析、オートメーション、環境制御に適したさまざまな機能を備えています。FES （In-Lens Field Emission Source）およびソフトウェアオートメーション機能により、高解像度のイメージングと自動解析を費用対効果の高いソリューションで実現します。