中古 FEI / TECNAI G2 Spirit TWIN T12 #293822247 を販売中

FEI/TECNAI G2 Spirit TWIN T12は、高解像度の表面解析と微細構造特性評価のための高度なイメージング機能を提供する洗練された走査型電子顕微鏡（SEM）です。FEI（現在のThermo Fisher Scientificの一部）とTECNAIによって設計されたFEI G2 Spirit TWIN T12は、最先端の技術を取り入れ、研究者や科学者にナノスケール調査のための強力なツールを提供します。TECNAI G2 Spirit TWIN T12のコアには、高性能な電子カラムがあります。この顕微鏡は、磁気浸漬レンズと静電レンズからなるTWINレンズ構成を備えており、イメージング性能を最適化し、解像度機能を向上させます。TWINレンズシステムは、20x〜1000,000xの倍率で高品質なサンプル画像を実現し、表面形態、粒子分布、微細構造の詳細な解析を可能にします。タングステンフィラメント電子源を搭載したG2 Spirit TWIN T12は、金属、セラミックス、ポリマー、半導体、生物標本などの幅広い材料をイメージングするための安定した強烈な電子ビームを提供することができます。この顕微鏡は、さまざまなサンプルタイプとイメージング要件に対応するための可変電子ビームエネルギー設定を提供し、マイクログラフの正確な解析と解釈のために最適なコントラストと信号対ノイズ比を確保します。FEI/TECNAI G2 Spirit TWIN T12には、2次電子（SE）、逆散乱電子（BSE）、およびX線を検出するさまざまな検出器が搭載されています。これらの検出器は、ユーザーが複数のイメージングモダリティをキャプチャし、試験片の表面から貴重な元素情報を収集することができます。SE検出器は表面の地形やテクスチャの詳細を明らかにするのに理想的ですが、BSE検出器は原子番号の変動に基づいて組成コントラストと材料差別を提供します。FEI G2 Spirit TWIN T12は、イメージング機能に加えて、元素マッピング、化学組成分析、粒子分析を行うための高度な分析機能を提供します。この顕微鏡は、エネルギー分散型X線分光法（EDS）および波長分散型X線分光法（WDS）システムと互換性があり、高い空間分解能と感度で元素解析を行うことができます。統合されたEDS/WDS検出器は、サンプルに存在する元素を特定して定量化することができ、サンプルの組成と元素分布に関する洞察を提供します。TECNAI G2 Spirit TWIN T12は、画像処理ワークフローを合理化し、ユーザーの生産性を向上させる高度な制御および自動化システムを搭載しています。この顕微鏡は、顕微鏡制御、画像取得、データ分析のための直感的なソフトウェアインターフェースを備えており、ユーザーは複雑な画像処理を簡単に実行するためのユーザーフレンドリーな体験を提供します。さらに、この顕微鏡は自動化されたイメージングルーチン、ステージナビゲーション、およびイメージングプリセットで設計されており、サンプルハンドリングとイメージングのセットアップを簡素化し、迅速なデータ収集と分析を可能にします。全体として、G2 Spirit TWIN T12は最先端の走査型電子顕微鏡であり、優れたイメージング性能、分析能力、および幅広い材料科学および生物学研究アプリケーション向けのユーザーフレンドリーな操作を提供します。FEI/TECNAI G2 Spirit TWIN T12は、ナノスケール顕微鏡の分野における科学的発見と革新を進めるための貴重なツールです。