中古 FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9028804 を販売中

FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin Scanning Electron Microscope （SEM）は、様々なサンプルの高解像度イメージングおよび解析用に設計された先進的な装置です。これは、サンプルの準備と機器の動作を分離したままに設計されたデュアルチャンバーシステムで、広い視野とダイナミックな焦点を内蔵しています。この高度な顕微鏡はまた、サンプルの元素分析を提供するエネルギー分散X線分光法（EDS）検出器を備えています。FEI G2 F30 S-Twin SEMは、優れた解像度と高倍率イメージングのために0。1nmの波長を提供する電子銃を備えています。イメージング生体試料、測定材料の微細構造および表面粗さ、細胞病理、薬物送達研究など、幅広い用途において、より高い電流および電圧レベルで動作するように設計されています。この装置はまた、フォーカスイオンビーム（FIB）技術により優れた安定性と解像度を提供します。TECNAI G2 F30 S-Twin SEMは、デュアルチャンバーアーキテクチャ、4軸電動ステージ、および高度なソフトウェア機能により、優れた性能を提供するように設計されています。SEMは、高度なエレクトロニクスと光学を組み合わせて、詳細なコントラストと奥行きのある高解像度イメージングを実現しています。また、上面と下面の両方から標本を観察できるように坐骨レンズを装備しているほか、微細な標本材料を撮影するためのオプションの低真空モードも備えています。標準的な画像処理に加えて、G2 F30 S-Twinは、エネルギー分散分光法（EDS）検出器、自動粒子解析（APA）、逆散乱電子（BSE）イメージング、スキャニングイオンマイクロプローブ（SIM）などの幅広い分析機能を備えています。さらに、ビーム電流オートフォーカス・システムと自動化された最適化により、サンプル化学および構造の詳細な特性評価が可能になります。全体的に、FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin SEMは、高解像度のイメージングと多様な標本の分析のために設計された強力で汎用性の高いツールです。優れた解像度、高度な電気機械設計、高度なオートメーション、広範な分析ツールなど、比類のない機能と機能の組み合わせを提供します。