中古 FEI Tecnai F3 #9145926 を販売中

FEI Tecnai F3 Scanning Electron Microscope （SEM）は、高度な研究用途向けに設計された最先端の走査型電子顕微鏡です。F3のユニークな設計により、研究者は1 nmまでの解像度でオブジェクトを画像化することができ、この倍率レベルではそうでなければアクセスできない詳細の観察と分析を可能にします。F3は、最大80kVの調整可能な低加速電圧と最大60kVの上加速電圧を備えており、研究アプリケーションに高い柔軟性を提供します。F3には調整可能なダイナミックイメージコントラスト装置が装備されており、研究レベルの走査型電子顕微鏡ではほとんど見られないリアリズムのエッセンスで画像を捉えることができます。このシステムは、パターン、テクスチャ、その他の画像特性を高倍率で認識できないように強化するために使用できます。また、F3はコールドフィールド放射源を備えており、表面充電が少なく、解像度が向上したクリーンな画像を提供します。F3は、画像解析を改善するための自動デジタルズームユニットを備えており、画像解析中に画像コントラストレベルをさらに調整する機能を備えています。自動化された画像取得機により、高精度なサンプルフィーチャーの測定が可能です。F3はオートフォーカスモジュールも備えており、サンプルセクションでのスキャンを洗練させます。F3は、Oxford Instruments EDXツールを介してEDX （Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy）解析を行うことができ、サンプルに存在する物質の質的および定量的情報を提供します。この機能により、研究者は試料の特性をさらに調べ、元素レベルまで存在する物質を特定することができます。F3は人間工学に基づいて設計されており、オペレーターコンソールと使いやすいソフトウェアが付属しています。F3は、高品質で高度な機能と幅広い機能を備えているため、最先端の走査型電子顕微鏡を探している研究者に最適です。