中古 FEI Strata FIB 205 #9233566 を販売中

FEI Strata FIB 205は、高度なイメージングおよびマッピング機能を必要とする研究者および科学者向けに設計されたハイエンドスキャン電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、可能な限り最高の解像度のイメージングと分析を保証するために、多数の便利な機能を提供します。Strata FIB 205は、DualBeamワークフロー用に特別に設計されたField Emission Gun （FEG）とカスタム設計されたQuattro試料ステージに基づいています。高度な光学系、ナノステージ、優れたサンプル照明、多数のアクセサリーにより、このシステムはイメージングとデータ収集のための強力なツールとなります。Quattroステージは、厚さ9mmまでのサンプルを運ぶことができ、3Dナノ構造のイメージングに特に適しています。FEI Strata FIB 205は、優れた解像度と高いビーム電流密度を提供する高輝度FEGを誇り、イメージング速度を向上させます。このユニットはまた、焦点の深さを向上させ、大きなサンプルサイズをイメージングすることができる6。3インチの大きな視野を備えています。Strata FIB 205には、二次電子や逆散乱電子検出器からのデータを自動的に相関させることができる相関マッピングステージなど、さまざまなサンプルホルダーやステージも含まれています。SuperDryサンプルホルダーは親水性サンプルのイメージング品質を向上させ、CrystalViewサンプルホルダーは構造化されたサーフェスをリアルタイムでイメージングするように設計されています。FEI Strata FIB 205は、タスクに応じて自動検出が可能なIntelliTuneと、使いやすい自動マッピングソフトウェアと改善された結果を得るための自動画像処理が可能です。また、超高解像度データを取得したり、より大規模な表面測定を行うことができる高度な画像取得ツールも搭載しています。Strata FIB 205は、研究開発用途に最先端の走査型電子顕微鏡の性能を提供します。FEI Strata FIB 205は、高度なイメージングおよびマッピング機能、優れたサンプル調製および自動化ツールにより、利用可能な最も強力な走査型電子顕微鏡システムの1つです。