中古 FEI Quanta Inspect #9172399 を販売中
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ID: 9172399
Scanning Electron Microscope (SEM)
Without EDS
Tungsten filament single beam
EDWARDS 8 Vacuum pump
Vacuum system:
High vacuum mode: <6 x 10^-4 Pa
Low vacuum mode: 10 - 270 Pa
Through the lens ESEM differential pumping technology
70 l/S Turbo molecular drag pump
Rotary pump
Electron optics:
Pre-aligned
(3) Lenses
Air cooled
Electron optical column optimized for high resolution
Fixed position
Final lens aperture
Navigation:
X: 50 mm (Motorized)
Y: 50 mm (Motorized)
Z: 25 mm (Manual)
Tilt: +75° to -15°
Tilt eucentric at analytical working distance: 10 mm
Source: Tungsten hairpin filament
Voltage: 200 V to 30 kV
Beam current: > 2 µA
Resolution: 3.0 nm Gold particle separation on carbon substrate
High vacuum operating modes: 10 nm at 3 kV
Low vacuum operating modes: <12 nm at 3 kV
Focus range: 3 mm - 99 mm
Magnification: 6x to >1,000,000x
With 19" LCD monitor
Scanner:
Pixel density: 512 x 442, 1024 x 884, 2048 x 1768
Dwell time: 50 ns/pixel to 1 ms/pixel
Electronic scan: n x 360°
Detector
Monitor: LCD, 19"
Low-kV, Solid state backscattered electron detector with preamplifier
CCR IR Camera.
FEI Quanta Inspectは、高度な研究および分析ラボ実験用に設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。半導体、複合材料、金属、セラミックス、ポリマー、磁性材料、薄膜など、さまざまな材料の検査および分析に最適です。Quanta Inspect SEMは最先端の電子カラムを使用しており、優れた性能と解像度を提供します。これには、最新の画像処理およびデジタル信号処理機能が含まれています。高度なLiebscher Type Gun （LTG）電子源を搭載し、高分解能イメージングと後方散乱電子イメージングの両方のプローブを備えています。さらに、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス、自動レベルと測定距離、イメージステッチ機能、重要な構造を測定するための幅広いツールを備えたインテリジェントイメージングおよび分析プラットフォームを備えています。FEI Quanta Inspectは、1。4 nmの横解像度と14ビットのダイナミックレンジで高品質の画像を提供することができます。また、可変圧力走査型電子顕微鏡（VP-SEM）を搭載しており、幅広い作業条件で優れたイメージングを実現しています。VP-SEMは、イメージングおよび解析に最適な真空条件を維持するために、高電圧アクセラレータの速度を変更します。サンプルステージでは、Quanta Inspectは、電動ポジショニングシステム、動的オブジェクトを表示するための傾斜ステージ、オートフォーカスシステム、サンプルナビゲーションアメニティ、プログラマブルスキャン速度範囲など、さまざまなアプリケーションのオプションを提供します。FEI Quanta Inspectは、さまざまな検出器を使用して、最も困難な分析要求に対応する柔軟性をユーザーに提供します。そのマルチクラウド検出器は、低エネルギーおよび高エネルギーのビームイメージングに使用できます。電子後方散乱回折（EBSD）検出器は、さまざまな材料でナノスケールの特徴を研究するために必要な明瞭さを研究者に与えます。また、薄い標本とバルク標本の両方で元素組成を検出および分析することができます。Quanta Inspectは、自動マッピング、アレイ測定、自動データ取得、レポートなどの高度な機能を提供するオールインワンSEMソリューションです。それは研究および産業適用の広い範囲のための理想的な用具です。
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