中古 FEI Quanta 250 FEG #293686361 を販売中

ID: 293686361
Scanning Electron Microscope (SEM) EDX Secondary electron image resolution: High vacuum mode: 1.0 mm @ 30 kV, 3.0 mm @ 1 kV Backscattered electron image resolution: High vacuum mode: 2.5 mm @ 30 kV Low and ambient vacuum mode: 1.4 nm @ 30 kV Beam current range: 0.8 pa ~ 100 na (15 kV) 0.8 pa ~ 100 na (2 kV) 0.8 pa ~ 100 na (1 kV) Acceleration voltage: 200 V~30 kV.
FEI Quanta 250 FEGは、材料科学、ライフサイエンス、ナノテクノロジー、半導体などの様々な分野の高解像度イメージングと高度な分析能力のために設計された洗練された走査型電子顕微鏡(SEM)です。Quanta 250 FEGは、FEI Quantaシリーズのフラッグシップ機器として、革新的な技術を取り入れ、幅広い研究アプリケーションに卓越したパフォーマンスと汎用性を提供します。FEI Quanta 250 FEGの主な特徴の1つは、高輝度とコヒーレンスで非常に安定した電子ビームを提供する電界放射銃(FEG)電子源です。これにより、顕微鏡は優れたイメージング解像度をサブナノメートルレベルまで達成することができ、研究者は比類のない明瞭さで細部や構造を可視化することができます。FEGソースはまた、強化されたビーム制御とビーム電流安定性を提供し、一貫した再現性のある画像処理結果を保証します。Quanta 250 FEGには、二次電子(SE)検出器、逆散乱電子(BSE)検出器、エネルギー分散X線分光法(EDS)検出器など、複数の検出器オプションが装備されています。FEI Quanta 250 FEGは、さまざまな特性と組成を持つさまざまなサンプルを特徴付けるための汎用性の高いツールです。イメージング機能に関しては、Quanta 250 FEGは高真空モードと低真空モードの両方をサポートしているため、充電効果の影響を受けやすい非導電材料を含む幅広いサンプルのイメージングが可能です。また、可変圧力モード、環境SEM (ESEM)モード、低真空モードなどの高度なイメージングモードを備えており、可変水和レベルのサンプルのイメージングや、広範なサンプル調製を必要とせずにサンプルを自然状態でイメージングすることができます。FEI Quanta 250 FEGは、電子ビームとサンプルの相互作用中に放出される特徴的なX線を検出することにより、サンプルの元素分析を可能にするEDSシステムを備えています。これにより、研究者は、サンプルの元素組成を特定して定量化し、サンプル内の元素分布をマップし、高い空間分解能で元素ラインスキャンを実行することができます。さらに、Quanta 250 FEGは、データの取得、処理、分析のための高度なソフトウェア機能を提供し、研究者が自分の画像やスペクトルから貴重な情報を抽出することができます。この顕微鏡は、FEI独自のソフトウェアスイートを含むさまざまなイメージングおよび分析ソフトウェアパッケージと互換性があり、直感的なユーザーインターフェイス、オートメーションツール、および画像処理アルゴリズムを提供し、生産性とデータ解釈を向上させます。全体として、FEI Quanta 250 FEG走査型電子顕微鏡は、高解像度イメージング機能と高度な分析技術を組み合わせた最先端の機器であり、幅広い材料やサンプルの微細構造、組成、特性を研究するための強力なツールを研究者に提供します。優れた性能、汎用性、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えたQuanta 250 FEGは、さまざまな分野の科学的研究と発見に不可欠なツールです。
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