中古 FEI Nova NanoSEM 400 #9284372 を販売中

FEI Nova NanoSEM 400は、ナノスケールのイメージング要件に対応するために設計された次世代スキャン電子顕微鏡（SEM）です。NanoSEM 400は、最大0。8nmの高解像度イメージング機能を備え、故障解析、回路スキャン、欠陥識別、表面形状の可視化などのアプリケーションに最適なツールです。この顕微鏡の高分解能イメージングは、電界放射銃（FEG）電子源のおかげで、非常に集中した高輝度の電子ビームを生成します。これにより、NanoSEM 400は、他のSEMシステムよりも低い倍率でサンプル表面をスキャンし、画像を作成することができ、解像度と精度を向上させることができます。さらに、FEG電子源は、精度とイメージングの安定性を向上させます。Nova NanoSEM 400は、可変圧力環境走査電子顕微鏡（ESEM）、低真空スキャン、二次電子イメージング（SEI）、後方散乱電子イメージング（BSEI）などの高度なイメージング機能を備えています。ESEMにより、ユーザーはコーティングや高真空を必要とせずに非導電性サンプルを分析することができ、ライフサイエンスやフォレンジックのアプリケーションに最適です。SEIとBSEIは、サンプル地形と化学の両方を観察することができ、サンプルの詳細かつ包括的な画像を得ることができます。FEI Nova NanoSEM 400は、自動化された電動ステージ制御も可能で、広い領域での自動ウェハスキャンが可能です。これにより、集積回路やMEMSデバイスなどの大規模かつ複雑なサンプルに非常に詳細な画像を提供することができます。さらに利便性を高めるため、インターネットを介した遠隔操作も可能で、メンテナンスやサポートが容易になります。Nova NanoSEM 400は、実質的にあらゆるラボ環境に簡単に統合できる高度でユーザーフレンドリーなシステムです。高解像度イメージング機能と包括的なイメージングオプションを備えたFEI Nova NanoSEM 400は、最も複雑なナノスケールのイメージング要件に対応する理想的なツールです。