中古 FEI Inspect S50 #9402635 を販売中

FEI Inspect S50は最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）です。装置の高度なイメージングおよび分析機能は、多くの業界の幅広い材料を検査、分析、特性評価するための優れた性能と分析力を提供するように設計されています。Inspect S50には、高解像度の高コントラスト画像を作成するために電子の濃縮ビームを使用するフィールド放射銃（FEG）が装備されています。デジタルシグナルプロセッサ（DSP）を内蔵することで、画像取得速度を4倍に向上させ、高速な動作とスループットの向上を実現します。このシステムには、優れた品質のイメージングのための非常に低ノイズで高スループットのデュアルステージのコールドフィールド放射（CFE）ガンも含まれています。このユニットは、高性能5メガピクセル（5MP）カメラを備えており、画質と明瞭さを向上させています。大容量のチャンバーにより、最大22mmまでのサンプルを操作でき、自動化されたステージにより、精密な位置決めとサンプルナビゲーションが可能です。この機械は、エネルギー分散分光法（EDS）と大型のシリコン・ドリフト検出器（SDD）を備えており、元素解析を改善しています。FEI Inspect S50には、パフォーマンスと生産性を最大化するように設計されたソフトウェアツールのスイートが装備されています。これらのツールには、自動ステージ操作、3D電子トモグラフィー、自動画像処理と補正、サンプルトラッキング、スペクトル分析が含まれます。これらの機能により、Inspect S50材料研究、故障解析、ナノ構造解析などのアプリケーションに理想的な機器となります。全体として、FEI Inspect S50は強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡であり、多くの業界に優れたイメージングおよび分析機能を提供します。高度な機能とユーザーフレンドリーなインターフェースを備えたこのツールは、多くのアプリケーションに最適で、高性能と柔軟性を求めるラボに最適です。