中古 FEI Inspect S50 #293624510 を販売中

FEI Inspect S50は、研究および材料分析に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。この高解像度SEMにより、最大500,000xの倍率で広範囲にわたって高速かつ正確なイメージングが可能です。有機材料S50無機材料の両方で地形画像を撮影するための特定のデジタル検出器を検査します。そのデジタルフェーズコントラスト画像技術は、ユーザーが細胞壁から特定の生体分子まで、生物学的システムの開発のさまざまな段階を検査することができます。そのデジタルクローズドループ制御技術は、長寿命かつ高速なデータ取得により正確なスキャンを提供し、高コントラストのイメージングを実現します。統合されたCCDカメラとイメージコントローラは、高度な画像処理とオンザフライフィルタリング機能を備えています。直感的なユーザーインターフェイスと組み合わされたこれらのイメージング機能により、SEMエクスペリエンスが限られているオペレータは信頼性の高い再現性の高い結果を得ることができます。FEI Inspect S50では、広い視野にわたる自動高速スキャン、自動化されたイメージステッチ、自動化されたデータ分析など、多くの高度なオートメーションオプションも提供しています。オンボードプリスキャンクロマチックおよびオリエンテーション補正システムは、下流の分析時間を最小限に抑え、スループットを向上させます。検査S50には環境チャンバーも装備しています。これにより、ユーザーは、制御された環境で、被覆されていないサンプルのイメージングと測定を行うことができます。一体化された加熱・冷却、自動ガス流量制御、サンプル環境モニタリングなどの機能により、最も繊細なサンプルでも正確な環境条件を維持することができます。要約すると、FEI Inspect S50は高解像度SEMであり、信頼性の高い再現性の高い結果を得るための高度なイメージングおよびオートメーション機能を提供します。500,000xまでの倍率で地形画像を生成することが可能であり、その環境チャンバーにより、制御された環境での被覆されていないサンプルのイメージングと測定を行うことができます。このシステムは、あらゆる材料分析および研究アプリケーションに適しています。