中古 FEI Inspect S50 #293605298 を販売中

FEI Inspect S50 Scanning Electron Microscope （SEM）は、高倍率で小物の非常に詳細な画像を生成することに長けたハイエンドイメージング機器です。これは、電子の集束ラスターを使用して、拡大の範囲を介して画像に、物理的および化学的特性の様々なキャプチャ機能を持っています。Inspect S50は、優れた信号検出、正確な化学的および元素マッピング、および正確なX線分光能力を備えた、包括的なイメージング機能を提供します。その専門ソフトウェアは、材料の範囲の正確なデータ分析を可能にします。FEI Inspect S50は、解像度が高いため、ナノメートルスケールでの画像処理が可能です。顕微鏡の倍率は2,500xから120,000xまで及び、広い視野を特色にします。優れた広い被写界深度により、研究者は大きなサンプルを高倍率で鮮明かつ正確に捕捉することができます。高い検出限界は、空間分解能と焦点深度の両方の観点から、Inspect S50は、微細な構造を調べ、サンプル中の超薄い層を特定して定量化するのに理想的です。優れたイメージング機能は、優れた3D情報と、幅広い材料における微小欠陥や粒子の高分解能マッピングを提供します。FEI Inspect S50は、優れたイメージング機能に加えて、エネルギー分散（EDS）や波長分散（WDS） X線分光法などの高度な分析ツールも提供しています。これは、ユーザーがサンプルの材料組成物を正確かつ正確に分析できることを意味します。全体として、Inspect S50は、研究を支援する強力で汎用性の高いイメージングシステムを必要とする科学者や研究者にとって非常に有用なツールです。その優れたイメージング機能とハイエンドの分析ツールは、小さなオブジェクトの詳細で正確な分析とイメージングを必要とするユーザーにとって理想的な選択肢です。