中古 FEI Inspect F50 #9224409 を販売中
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販売された
ID: 9224409
ヴィンテージ: 2013
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM)
Includes:
EDAX Octane Super 60 mm² SDD
TEAM EDS analysis system
iXRF XBeam XRF
2013 vintage.
FEI Inspect F50は、材料の非破壊解析のために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、より高いサンプルスループット、優れた解像度と精度のための高度な設計とエンジニアリングを含む、最高品質のイメージング技術を提供するための機能の範囲を提供しています。Inspect F50には、分解能を高め、サンプル中の微細構造のより正確な画像処理を行うことができるインコラム型エネルギーフィルター検出器が装備されています。さらに、インコラム検出器は、コントラストと全体の視野の理想的なバランスを提供するために調整可能です。これにより、オペレータは最適なコントラストと画質を実現することができます。カラム内のエネルギーフィルター検出器はまた、サンプルが受け取る総電離イオン化量(TID)を減らし、損傷に敏感な材料に最適です。FEI Inspect F50には、背景散乱電子(BSE)イメージング、可変圧力イメージング、電子後方散乱回折(EBSD)イメージングなど、さまざまな高度なイメージングオプションがあります。SEMの逆散乱電子モードにより、オペレータはサンプルの元素組成と化学状態を検出することができます。可変圧力イメージングは、低真空で高品質のイメージングを提供し、腐食マッピングや水和サンプルのイメージングなどの化学変化を伴うアプリケーションに最適です。最後に、EBSDイメージングを使用してサンプルの結晶構造を分析することができます。Inspect F50には、サンプルの準備、イメージング、分析を簡単かつ簡単に行うためのユーザーフレンドリーな機能もあります。例えば、ステージモーターはxyzとシータ制御を備えた広範囲の移動を提供するため、ユーザーはサンプルを迅速かつ正確にイメージングの位置に移動できます。さらに、オペレータコンソールは、すべての顕微鏡の機能と設定に簡単にアクセスでき、専門家や新規参入者がSEMの機能を利用できるようになります。全体的に、FEI Inspect F50は、材料研究および分析のための優れたSEMです。高度なイメージング機能と直感的なオペレーティングシステムを組み合わせることで、研究室や業界にとって理想的な選択肢となります。
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