中古 FEI Inspect-F #9284147 を販売中

FEI Inspect-Fは、様々な材料や半導体デバイスを構造解析・検討するために特別に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）システムです。Inspect-Fは、後方散乱電子イメージング、二次電子イメージング、陰極発光イメージングなど、さまざまなオプションを提供する低電圧イメージング機能を提供します。低電圧イメージングは、標本の表面層の詳細な画像を提供するのに役立ち、通常のSEMには小さすぎる超薄型の標本のイメージングを可能にします。FEI Inspect-Fは、最大1nmの優れた解像度を備えています。これは、材料のナノスケール機能を拡大ビューに取り込むことができる機能です。また、デジタル信号プロセッサを搭載しており、画像を素早く記録および処理するのに役立ちます。精度に関しては、このSEMには自動ソリッドステートドリフト補正システムがあり、異なる倍率で試験片デントログライドの位置を正確に保つのに役立ちます。これは、イメージングの位置決め精度を維持し、サンプル分析の速度を向上させるのに役立ちます。この装置は、自動交換ステーションと組み合わされたロードロックチャンバーを備えており、サンプルの取り扱いと分析に幅広いオプションを提供します。これには、サンプルの選択、クリーニング、準備などが含まれます。サンプルチャンバーを冷却または加熱することで、サンプルが最適な動作パラメータ内で常に維持されていることを確認できます。Inspect-Fには、自動機能検出、画像ステッチ、3D画像など、さまざまな高度なイメージングオプションが含まれています。これは、分析されている標本のより詳細な理解を提供するのに役立ちます。FEI Inspect-Fには、電子ビーム、電子検出器、信号処理システム、画像処理ソフトウェアなど、幅広い分析ツールが含まれています。これらにより、ユーザーは標本の特徴の最も微小な細部までマッピングすることができます。Inspect-Fは、あらゆる標本の徹底的な分析と検査を提供する高度で強力なツールです。この走査型電子顕微鏡は、得られたデータの精度と試験片の分析速度を向上させる高度な機能とイメージングツールを備えています。その特徴は、最大1nmという驚異的な解像度と組み合わされており、この装置は、材料やデバイスの複雑な詳細を探求しようとする研究者にとって必須のものです。