中古 FEI FIB-800XP #9104016 を販売中

FEI FIB-800XPは、さまざまなナノスケールイメージングおよび分析アプリケーションに最適な高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、0。1nmまでのサンプルを画像化および分析する機能を備えた高解像度の解像度を提供します。この800XPは、最適な柔軟性を得るためにデュアルビームシステムで動作し、電子ビーム誘導蒸着（EBID）やフォーカスイオンビーム（FIB）フライス加工などの用途を切り替えることができます。メインのSEMカラムは、サイト固有のイメージングと特性評価のための幅広い機能を提供します。独自の頑丈な環境により、最適なサンプルを最小限の振動で保持し、サンプル損傷のリスクを最小限に抑えます。電子ビームは、限られたエネルギー範囲内で電子を放出する熱電場放射銃（FEG）エミッタによって生成されます。これにより、焦点の深さと感度の向上を特徴とする優れた画像コントラストにより、画像の品質が向上します。先進的なSEMイメージングに加えて、FIB-800XPにはFIB操作用のインコラム型イオンビームミル（IBM）も含まれています。IBMは、精密なFIBフライス加工と蒸着のためのGaイオンソースによって駆動されます。高解像度の構造定義で3D構造を構築することができます。800XPには、カラムからの排出量をより多くキャプチャするデジタル検出器があり、3D分析のための最高品質の画像を提供します。この800XPには、エネルギー分散型X線分光法（EDS）による表面組成の解析機能も含まれています。このシステムは、サンプル中の元素の分布とそれらの間の化学結合に関する情報をキャプチャするために使用することができます。800XPはまた、分析イメージングおよび分光法のための電子ビームの自動操作のための必要なソフトウェアを提供します。これには、効率を最大化し、データの精度を向上させ、運用エラーを低減するように設計された高度な自動化機能が含まれます。FEI FIB-800XPは、デュアルビーム技術、高解像度SEMイメージング、FIBフライス加工、およびEDS機能により、研究者にナノスケール研究のための高度で信頼性の高いツールを提供します。その結果、これらの機能と最先端の設計、柔軟な機能、および高性能を組み合わせることで、さまざまなイメージングおよび分析タスクに理想的な選択肢となります。