中古 FEI FIB 800 #9200349 を販売中
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ID: 9200349
Focused Ion Beam (FIB) system
Does not include:
GIS
Columns
Circuit boards
30 kV High voltage boxes.
FEI FIB 800は、高度なイメージング用途向けに設計されたハイエンドスキャン電子顕微鏡(SEM)です。エネルギー分散X線分光計(EDS)、波長分散X線分光計(WDS)、表面感度解析技術を容易にするAu金属蒸化器などの高度な分析パッケージを備えています。この装置は、材料科学、地質学、半導体工学、生物学など、さまざまな分野でサブナノメートルスケールのイメージングと分析に使用されています。FIB 800は、そのイメージング機能で非常に高いレベルのディテールと解像度を表示することができます。SEMは、複数の異なるビームエネルギーで動作する独自の走査電子ビームを利用して、二次電子、逆散乱電子、スペクトル解析、エネルギー損失分析、および低電圧画像を取得します。これにより、ウイルスや結晶格子などの非常に小さな物体を捕捉して分析することができます。イメージされる区域の照明はまた強度を変えることができ、さまざまなサンプル厚さおよび表面状態を収容するために調節可能です。FEI FIB 800は、静的プロセスと動的プロセスの両方をリアルタイムでイメージングすることを可能にする電気制御試験片ステージを備えたチャンバーを備えています。この段階では、非常に低い慣性と振動で標本を移動させる高精度と精度があり、壊れやすいサンプルや生物学的サンプルを撮影するときに特に有益です。EDSを使用すると、サンプル材料の元素組成を特定して分析することができます。WDSは、ビームに電子が照射されたときにサンプルから放出されるX線の組成を検出して定量化するために使用され、蒸発器は試料表面へのスパッタリングまたは堆積を可能にします。さらに、この機器のイメージング機能は、サンプルフィーチャーの面積、強度、エッジの鋭さ、さらには表面要素を測定するために使用できる内蔵の解析ソフトウェアによってさらに強化されています。FIB 800は強力で洗練されたツールであり、さまざまなサンプルでさまざまな複雑なイメージングおよび分析タスクを実行できます。その優れた解像度と広範な分析機能により、さまざまなイメージングアプリケーションに適しています。
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