中古 FEI FIB 200 #9265437 を販売中

FEI FIB 200は、幅広い種類の標本のイメージングおよび分析用に設計された市場をリードする走査型電子顕微鏡（SEM）です。この高性能装置は、フィールド放出電子源とサブナノメートルレベルでのイメージングの改善を可能にする技術革新に基づいています。SEMは試料と相互作用する二次電子を生成し、結果として得られた画像のコントラストとディテールが得られます。FIB 200には慣性リソグラフィーシステムが搭載されており、10ナノメートルのサンプルを精密かつ迅速にプロトタイピングすることができます。このシステムは、2つの電子ビームを使用して、ターゲット領域を集中してスキャンすることができ、ユーザーに高精度のイメージングとパターニング機能を提供します。二次電子信号を監視し、データコントラストをリアルタイムで調整することで、さまざまなサンプルタイプを効率的に分析することができます。また、SEMは可変ビーム電流制御を備えており、イメージコントラスト調整が可能であり、イメージングを停止する必要はありません。最先端のデジタル信号検出器と強力な電子銃を装備し、画像の優れたコントラストと解像度を提供します。さらに、FEI FIB 200は、試料の深さプロファイルを作成するために、エネルギー分散X線分光法（EDX）を実行することができます。検出器は幅広い要素に敏感であり、結果はソフトウェアで評価することができます。FIB 200には、イメージングプロトコルやリソグラフィおよび蒸着プロセスのパラメータなど、さまざまなユーザー定義の動作パラメータに対応する強力なオートメーションおよびプロシージャ機能があります。最後に、FEI FIB 200はユーザーフレンドリーなインターフェイスを誇り、ユーザーが楽器に慣れるのを助けるために大量のチュートリアルとサンプル画像が含まれています。これは、高解像度のイメージングと分析を必要とする研究者、技術者、学生にとって理想的なツールです。