中古 FEI CLM-3D #293670547 を販売中

FEI CLM-3Dは、ナノスケール分解能における高分解能試料の表面形状および微細構造特性の特性評価用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、広い視野と広い作業距離を備えているため、詳細な機能だけでなく、大規模な概要をキャプチャするのに最適です。CLM-3Dは、ナノスケール構造の高精度イメージングを可能にする真のカラーチャンバーを誇っています。これは、光学的または化学的に分析する構造要素を必要とするサンプルをイメージングする場合に特に有益です。また、真のカラーチャンバーを使用すると、インタラクティブに表示し、デジタルファイルとして保存できる3次元（3D）画像を取得できます。FEI CLM-3Dは、高解像度の光学系を使用して、サンプル表面の正確なイメージングを保証します。対物レンズは長時間の作動距離があり、より大きな被写界深度を実現しながらも、十分な画像解像度を提供します。さらに、最大30度の集光角度も備えており、傾斜したビューのイメージングと3D形状のナノスケール機能の決定が可能です。CLM-3Dはまた、より高速な取得速度を備えており、毎秒数千枚の画像をキャプチャする可能性があります。これにより、サンプルの迅速な分析が可能になり、生産性が大幅に向上します。FEI CLM-3Dには、情報の自動イメージング、分析、公開を容易にする多機能ソフトウェアが含まれています。ソフトウェアには、自動ステッチ、マルチレベルスライシング、ピーク/トラフ強度解析など、いくつかの機能が装備されています。CLM-3Dのモジュラー設計は、使用されているアプリケーションに応じて、さまざまな構成から選択できます。このモジュール設計は、ダウンタイム、電気干渉、およびパフォーマンスの最適化に役立ちます。すべてにおいて、FEI CLM-3Dは、ナノスケールの特徴に優れたイメージング機能を提供する高精度スキャン電子顕微鏡です。材料科学研究、ナノ材料特性評価、半導体分析など様々な用途に適しています。