中古 FEI Altura 835 #9286978 を販売中

FEI Altura 835は、最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）で、標本表面のイメージングと分析において究極の性能を発揮する先端技術を組み合わせています。それは精密な標本の位置、急速なスキャン速度および高解像度のイメージ投射を提供する頑丈なSEMのコラムおよび速いスキャン段階を特色にします。この装置は、有機試料と無機試料の両方の元素を分析できるエネルギー分散X線検出器（EDX）を含む幅広い分析機能を提供し、材料構造、組成、表面形態に関する豊富な情報を提供します。Altura 835はまた、5軸デフレクターシステムを備えた高分解能の電子カラムを備えています。このユニットの3つの2軸スキャンデフレクターは、優れたソース・ツー・サンプルの焦点と画質を維持しながら、非常に高速なスキャン速度を提供します。FEI Altura 835によって提供される高加速電圧は、バックスキャッター電子イメージングなどの複数のイメージング技術を実行するのに適しています。この機械の傾斜ステージは、試験片の表面トポロジを評価するために、ユーザーが複数の傾斜角度で画像を取得することを可能にします。この顕微鏡はまた、損傷や変化を恐れずに非常に壊れやすい標本の観察を可能にする低電圧画像モードを提供します。Altura 835の高解像度EDXツールは、サンプルの素早い要素マッピングを提供します。有機・無機材料の化学分析に優れています。EDXアセットは、検出器、EDXワークステーション、および関連ソフトウェアで構成されており、素子マッピングを素早く簡単に行うことができます。この検出器は、材料組成の偏りのない定量化のための144スペクトルチャネルの分解能を備えています。FEI Altura 835は、さまざまな標本を分析するための幅広い機能を提供しています。大型のサンプルチャンバーとワークスペースを備えており、ステージモーターのヘルで立体試料の開発を監視することができます。また、磁気サンプルハンドリング、デジタルエンコーダ、自動追跡などの機能も備えており、複数の標本の簡単なナビゲーションと位置決めが可能です。Altura 835は、スキャン電子顕微鏡で高度なイメージングと分析機能をお探しの方のための究極のツールです。最先端の設計と技術により、高解像度の画像を取得し、材料構造や組成物を分析するための理想的なツールです。ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、ユーザーは顕微鏡をセットアップして使用することができ、サンプル表面を調査する際に最高のパフォーマンスをユーザーに提供します。