中古 FEI Altura 835 #293761494 を販売中

FEI Altura 835は、高解像度イメージングおよび解析機能用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。3軸スキャン機能や使いやすいグラフィカルインターフェイスを備えたデジタルイメージクロッピング機能など、高度なイメージング機能を備えた中級レベルのSEMです。SEMは内部で幅広い二次電子をサポート （SE）ソリッドステートバックスキャッタ検出器を含む形態解析および組成解析用の検出器 （SBD）、元素分析用エネルギー分散X線 （EDX）分光計、液体窒素冷却超低損失電子エネルギーフィルタ （EELF）化学状態のイメージングと分析、および二次、後方散乱およびX線イメージングを組み合わせるための検出器の広い範囲。Altura 835は、特殊な低ノイズ設計を備えたステージ上の信号アンプや、信号対ノイズ比を最適化するためのさまざまなフィルタリングおよび信号強化技術を含む、より大きなイメージングの詳細をキャプチャすることができますノイズ最適化への高度な信号を組み込みます。SEMには、高解像度のモノクロカメラとさまざまなx、 y、 z位置決めおよびステッチソフトウェアが搭載されており、画像取得を自動化および合理化します。FEI Altura 835の分析機能には、表面積、体積、粒度分布を生成する自動サンプル表面ノイズ解析が含まれます。また、自動パターン認識や、原子力顕微鏡（AFM）などの表面構造測定にも対応しています。EDX検出器を使用した組成解析により、ナノスケールの元素分布を特徴付けることができ、複数の元素を同時に測定するためのマルチチャンネル設定、および領域分解元素分布をマッピングするためのスペクトルイメージングが可能です。使いやすさと能力を最大限に高めるために、Altura 835には試験片の準備と分析を簡素化する自動運用システムが付属しています。この自動化されたシステムは、ユーザーがリアルタイムで顕微鏡を視覚化、制御、監視することができる、測定プロセスのための直感的なユーザーインターフェイスを提供します。さらに、包括的なソフトウェアツールと高度なアルゴリズムが搭載されており、強力なデータ管理、イメージング、データ可視化、分析機能を提供します。最終的に、FEI Altura 835は、高度なイメージングおよび分析機能を備えた汎用性の高いSEMプラットフォームであり、研究者は材料やナノ構造を高精度で探索および特性評価することができます。