中古 CIQTEK DB550 #293820900 を販売中

製造業者
CIQTEK
モデル
DB550
ID: 293820900
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Ion optical system Current: 1pA - 65nA Voltage: 500V - 30kV Electron-optical system Current: 1pA - 20nA Voltage: 320V - 30kV Vacuum system Sample chamber Sample stage Detector Image display.
CIQTEK DB550は、先進的なイメージング機能、人間工学に基づいた設計、直感的なユーザーインターフェースを特徴とする最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。この最先端の機器は、優れた性能と効率で、高解像度の画像と幅広いサンプルの詳細な分析を提供するように設計されています。このSEMは、精度と精度でナノスケール構造と表面特性を調査しようとする研究室、学術機関、産業施設に最適です。DB550の中心には、高輝度電子源、高度な電子光学カラム、精密焦点電子ビームを含む高度な電子光学システムがあります。この電子源は、明るさと安定性に優れた非常にコヒーレントな電子ビームを生成し、ナノメートルスケールでの高分解能イメージングを可能にします。この電子光学カラムは、サンプルの鮮明で詳細な画像を確保するために、ビーム拡散と高い信号対ノイズ比を最小限に抑え、優れたイメージング性能に最適化されています。CIQTEK DB550は、さまざまなイメージングのニーズやサンプルタイプに対応するために、さまざまな検出器とイメージングモードを備えています。この顕微鏡には、表面の地形や組成を高解像度で撮影するための大面積の二次電子検出器と、元素分析やマテリアルコントラストイメージングのための後方散乱電子検出器が装備されています。さらに、SEMは、試料中の化学組成の定量元素解析とマッピングのためのエネルギー分散型X線分光法(EDS)を提供しています。DB550の主要な強みの1つは、人間工学に基づいたデザインとユーザーフレンドリーなインターフェースで、研究者やオペレータのイメージングと分析ワークフローを合理化します。この顕微鏡には、電動ステージコントロール、自動画像取得ソフトウェア、直感的なデータ解析ツールが装備されており、ユーザーは簡単にサンプルをナビゲートして探索することができます。ユーザーインターフェイスはシームレスな操作を目的として設計されており、ユーザーは画像パラメータを調整し、画像をキャプチャし、最小限のトレーニングと専門知識で分析を実行できます。性能面では、CIQTEK DB550はイメージング速度、解像度、分析能力に優れています。この顕微鏡は、高速なイメージングとスキャン速度を提供し、高スループットの大規模サンプル領域の効率的なデータ取得と分析を可能にします。また、優れた解像度と画質を誇るSEMは、微細な表面ディテールとナノ構造材料をイメージングするためのサブナノメートル分解能を備えています。さらに、EDSや元素マッピングなどの分析機能は、サンプルの化学組成と材料特性に関する貴重な洞察を提供します。全体として、DB550は高度なイメージング技術、人間工学的設計、ユーザーフレンドリーなインターフェースを組み合わせた強力で汎用性の高いスキャン電子顕微鏡で、幅広いアプリケーションに優れた性能と結果を提供します。このSEMは、ナノスケール構造の研究、材料特性の特性評価、元素分析のいずれを行っても、研究者やオペレータに、比類のない詳細と精度のサンプルの正確なイメージングと分析のための包括的なソリューションを提供します。
まだレビューはありません