中古 CAMBRIDGE EBMF-6 #145926 を販売中

CAMBRIDGE EBMF-6 Scanning Electron Microscope （SEM）は中電圧SEMであり、学術的および産業的環境の両方で幅広いサンプル材料を分析することができます。このSEMには、可変圧力ガス注入装置が装備されており、低真空、さらには周囲条件下でのサンプル分析が可能です。EBMF-6は、二次電子では1nm、逆散乱電子では3nmの解像度でナノメートルスケールまで構造体をイメージングすることができます。0。25 nm/vの感度と1nmの小さなスポットサイズを誇り、解像度を最大化しています。CAMBRIDGE EBMF-6 SEMは、二次電子を検出するためのEverhart-Thornley検出器を備えています。さらに、専用の後方散乱電子検出器は、サンプルの結晶構造の優れた画像を提供します。この最先端の技術により、研究者はサンプルの構造を妨害剤やバックグラウンドノイズなしで分離することができます。EBMF-6には、さまざまな画像プロセスと画像の強化をサポートするデジタル光学システムも含まれています。これにより、SEMの精度と速度が向上し、サンプルの最大360°回転、2倍のデジタルズーム、画像の鮮明度が倍増し、画像内の高速オブジェクト検索が可能になります。SEMには、ジョイスティックが操作するFocusとZ軸のステージも含まれており、サンプルをスキャン電子ビームの下に取り外して再配置する必要なく、サンプル操作を可能にします。この機能は、SEM研究に不可欠なデータ取得プロセス全体を高速化します。CAMBRIDGE EBMF-6はパワフルで使いやすいコントロールユニットです。このソフトウェアは、プロセス全体を簡素化する直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーはすぐにSEMを制御する方法を学ぶことができます。EBMF-6スキャン電子顕微鏡は信頼性が高く、パワフルで使いやすいSEMで、小さなスポットサイズと高感度で優れたイメージング機能を提供します。その高度な機能と効率的な制御機械は、学術および産業研究のための素晴らしい選択肢になります。