中古 AMRAY 1810 #9314146 を販売中
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ID: 9314146
Scanning Electron Microscope (SEM)
LaB6 Filament
Computer control
Magnification: 20x to 50,000x
Lens apertures
Stage diameter: Up to 100 mm
X, Y and Z Movement directions: ±50 mm
Tilt: 90°
Continuous rotation: 360°
Pixel density: 8 K
Manual
Operating system: Windows 10
Acceleration potentials: 100 V to 30 kV.
AMRAY 1810は、研究および産業用の高解像度イメージングを提供する走査型電子顕微鏡(SEM)です。標準的なSEM技術を用いて試料の形態や地形を調べることができるほか、低電圧STEMラベリング、インレンズセカンダリ電子イメージング(ISCI)、低電圧バックスカッタ電子イメージング(LBED)などの高分解能技術も利用できます。1810は、完全な分析SEM機能、極端な高解像度機能、および普遍的な検出器の柔軟性を備えた全検査装置です。AMRAY 1810 SEMには、最大0。7 m2の実験ワークスペースを収容できる大型設計チャンバーがあります。このシステムには、温度、圧力、湿度など、SEMチャンバのすべての領域を正確に管理できる環境制御ユニットが含まれています。また、大きなサンプルサイズと積載能力、最大150Nのサンプル力、壊れやすいまたは柔らかいサンプル、および調節可能なチャンバーサイズを備えています。SEMの高解像度イメージングは、高度なコラム設計によるものです。この機械に安定した割れた棒の深さの焦点レンズ、低い分散の光学第4原子レンズおよび調節可能な高い角度の傾きの立場があります。これらの機能により、SEMは1KVで1nmまでの最大解像度で優れたイメージングを提供できます。さらに、0。2〜30kVの幅広い動作電圧、最大加速電圧34Kv、高度なデジタル信号処理、高速イメージングに最適なスキャン周波数を提供します。1810の高度な検出技術は、さまざまな検出オプションをユーザーに提供します。このツールには、二次電子検出器(SED)、広域エネルギー後方散乱電子検出器(BEBSD)、高効率の後方散乱電子検出器(HED)、低電圧イメージング用の検出器(LVI)、低ノイズエンドステーション検出器(ESD)が含まれます。これらの検出器は、電子回折、電子エネルギー損失分光法(EELS)、電子背景中和法(EBN)、その他の分析手法など、さまざまな技術を試すことができます。さらに、SEMには、最大解像度と低ノイズを提供する自動列内EDS分光計とEELSアセットが含まれています。AMRAY 1810の自動化により、研究および産業用アプリケーションに便利なツールとなります。このモデルには、コンピュータ統合、自動イメージセンタリング、デジタルスキャン、自動コントローラなどの高度な機能が含まれています。それはまた正しい作動距離がサンプルおよび対物レンズをween維持されることを保障する間隔の感知装置を含んでいます、 ユーザーが定義済みのシーケンスで実験を実行できるようにするユーザプログラミングされたイメージコマンドディスプレイ。 そしてユーザーがさまざまなサンプル構成のために自動的に焦点補償を得ることを可能にする自動焦点を合わせる特徴。1810は非常に高い解像度で優れたイメージング性能を求める研究者やユーザーにとって理想的な選択肢です。この機器は、研究および産業アプリケーションの両方に適した機能と検出器の配列を提供します。高度なイメージング技術、オートメーション、高解像度の強力な組み合わせにより、AMRAY 1810は理想的なSEMワークステーションになります。
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