中古 AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I #9226431 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS OPAL 7830Iは、半導体産業における精密イメージングおよび分析用に設計された先進的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、従来のスキャン技術を大幅に上回る詳細な観察のために、サブナノメートル分解能（<4nmの狭いサイズ）と高感度を提供します。このシステムは分析機能を備えており、イオンビーム（FIB）と電子ビームリソグラフィ（EBL）機能を内蔵しています。ナノスケールのサンプル調製と、密集したサンプルに埋め込まれた物体の視覚的解析の両方を提供します。高精度3軸機械段階、大型ダイナミックレンジ・デジタル検出器、最先端の電子光学系など、幅広い機能を備えています。この最先端のマシンは、ビームエネルギーとスポットサイズの両方の微調整を可能にし、お客様の特定のイメージングのニーズを満たします。AMAT OPAL 7830Iには、エネルギー分解能とスポットサイズを向上させた安定した電子ビームを提供する高分解能フィールド放射銃（FEG）があります。これは、イメージングに適したエネルギーを選択するのに役立つ内蔵のエネルギーフィルター制御を備えています。電子光学系には微調整のための調節可能な乱視と球面収差があります。電子光学ツールは、画質を最大限に高めるために、大きな接眼レンズと調整可能なコントラスト制御を備えています。この資産には、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェアコンポーネントが統合されており、すべてが安定性と最適なパフォーマンスを実現しています。高速な高精度サンプルステージとデジタルCCDカメラを備えており、サブナノメートルレベルでの正確な観測が可能です。さらに、FIBには、in-situ成膜とエッチングを可能にする特別に設計された波形発生器があります。広いダイナミックレンジのCCD検出器のセットアップは比類のない感度とコントラストを提供します。このようにして、イメージングは以前のイメージングシステムと比較して改善されます。APPLIED MATERIALS 7830Iは、CADシステムと自動化されたロボットサンプル処理と容易に組み合わせることができ、高いスループットと再現性のある結果を得ることができます。装置は、セットアップ時間を短縮し、精度を向上させる自動化された機能を備えています。オンボードスクリプティング技術により、お客様はテストをカスタマイズし、作業プロセスの速度を向上させることができます。最後に、このソフトウェアは、電子後方散乱回折（EBSD）やエネルギー分散X線 （EDS）などの他のイメージングアプリケーションへの統合を可能にします。これらの機能により、APPLIED MATERIALS OPAL 7830Iは、半導体業界に求められる信頼性と高精度を維持しながら、高解像度のイメージング機能を提供します。それは今日の市場の最先端の走査型電子顕微鏡で、最も要求の厳しい産業プロジェクトのための優秀なイメージ投射および分析を提供します。