中古 AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9124324 を販売中

AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830 Scanning Electron Microscope （SEM）は、半導体、バイオメディカル、材料、産業用サンプルなど、さまざまなサンプルの観察、イメージング、分析に使用される高性能なイメージングおよび分析ツールです。この装置は、複雑な故障解析、材料研究、顕微鏡アプリケーションに最適です。ELV （Extended Low Vacuum）モードを搭載しており、周囲の空気やガス状のサンプルなどの非避難大気でのサンプルのイメージングを可能にします。この電子顕微鏡は、可能な限り最高速度で高解像度の画像を取得するために、走査型の自動二次電子画像検出器（SEI）を備えています。その他の高度なイメージングおよび解析機能には、自動空間分解能マッピング、スペクトルイメージング、信号処理などがあります。AMAT Opal 7830 Scanning Electron Microscopeは、後方散乱電子（BSE）、二次電子（SE）、シュリーレン、カソドルミネッセンス（CL）、エネルギー分散分光法（EDS）など、幅広い信号タイプを収集することができます。また、デュアル検出器も搭載しており、同時画像と機能測定が可能です。この強力な電子顕微鏡は最大分解能が15nmで、ナノスケールでの正確な画像撮影が可能です。ELVモードでは、このモデルは、避難せずにオブジェクトの大面積の画像をキャプチャすることができます。さらに、APPLIED MATERIALS Opal 7830は、サンプル表面全体に焦点電子ビームを移動させるデュアルビームイメージング装置を提供しています。これにより、高感度イメージングが可能になり、低信号対ノイズ比（S/N）で詳細を明らかにします。振動ノイズ低減システムにより、低騒音画像を実現し、画質を損なうことなく高解像度で検査することができます。また、自動焦点補正装置、光学アライメントユニット、自動ステージ制御など、幅広い自動化機能を備えています。これらの機能により、顕微鏡サンプルのサイズや位置などの特徴を正確に制御することができます。さらに、本機には統合ソフトウェアパッケージがあり、SEMから取得したそれぞれのデータを解析することができます。全体として、APPLIED MATERIALS Opal 7830 Scanning Electron Microscopeは、複雑な故障解析、材料研究、および顕微鏡アプリケーションに最適です。強力な5軸電動サンプルステージ、低真空イメージング、およびデュアルビームイメージングにより、迅速かつ正確なイメージングツールとなります。