中古 SENSARRAY 1501A-8-0608 #9144365 を販売中

SENSARRAY 1501A-8-0608 proberは、高度な半導体デバイスのテストとプロービングアプリケーションの範囲のために設計された高精度プローバです。ウェーハ、リードフレーム、集積回路（IC）など多種多様な基板試験が可能です。Proberのコア機能は、高解像度の8チャンネルのデジタルフリッププローブヘッドです。このヘッドは、0。065mmからサブミクロンレベルまでの高度なデバイスアーキテクチャをテストするために設計されています。フリッププローブヘッドは、さまざまな環境条件下でデバイスの電流または電圧特性を反転およびキャプチャすることができます。1501A-8-0608のチップレベルのプロービング機能により、高度な特性評価と半導体部品の高速試験が可能です。高リゾリューションのセンサーの配列の頭部はまた-35°Cから+150°Cに及ぶ温度調整を特色にします。この範囲により、正確な温度依存デバイス特性を測定することができ、オペレータはプローベル精度を高め、ますます複雑化するデバイスでの歩留まりを向上させることができます。また、温度制御により、プロービングシステムは広い温度範囲で確実に動作し、デバイスが指定された限界範囲に落ちることを保証します。プローバはカスタム40位置チャックでも提供され、異なるテストシーケンスを持つ複数のサンプルを同時にテストすることができます。また、ユニットのプローブとチャックの迅速かつ信頼性の高い交換または修理を可能にします。プローバーは0。7mm〜1。5mmのリフトストロークを備えており、広範囲の高さで再現性と正確なイメージングが可能です。機械のリフトストロークは、運転中に基板を選ぶ回数を減らすことで、オペレータの利便性を向上させます。これにより、表面汚染を低減し、プロセスの全体的なスループットと歩留まりを向上させます。SENSARRAY 1501A-8-0608 proberは大量生産用に設計されており、複数の基板の自動テストをサポートしています。その高精度で反復可能な性能は、自動化されたテストシステムに最適です。また、研究開発環境における高精度および歩留まりアプリケーションにも最適です。