中古 RUDOLPH WV 320 #9355327 を販売中

RUDOLPH WV 320
ID: 9355327
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2007
Macro defect inspection system, 12" 2007 vintage.
RUDOLPH WV 320は、高度で高性能なマスクおよびウェーハ検査装置です。高速CMOSセンサーを搭載し、静的および動的検査機能を内蔵しています。このシステムは、現在の最先端の半導体プロセスで使用されているマスクおよびウェーハオブジェクトの検査をサポートするように設計されています。RUDOLPH WV320には、革新的で高度に構成可能な計測機能が含まれています。この自動計測機能は、マスクおよびウェーハオブジェクトの重要な寸法および特徴を迅速かつ再現可能に測定できるように設計されています。自動化された欠陥および特徴の分析、自動化されたレポート、および包括的な結果の追跡を特色にします。高解像度CMOSイメージングおよび検査機能により、マスクやウェーハの品質を迅速かつ正確に判断できます。また、欠陥検出機能を利用して、マスクやウェーハオブジェクトの欠陥をすばやく特定することもできます。さらに、WV320には高度な画像後処理機能が搭載されています。これには、画像シャープニング機能、特徴を正確に識別および解決する機能、および特徴および欠陥の許容範囲を決定する画像フィルタリングが含まれます。WV320は、アルゴリズム構成の柔軟性が高く、生産要件を満たすために特定のアルゴリズムを迅速かつ簡単に選択することができます。さらに、マルチカメラアプリケーションで動作するように構成することができ、ユーザーはマシンのスケーラビリティを活用することができます。RUDOLPH WV 320はまた、高度な断層、歩留まり、統計分析機能を提供するように設計された強力な分析ツールの範囲をユーザーに提供します。また、包括的なインタラクティブな表示とレポート機能をユーザーに提供します。これらの両方のコンポーネントは、ユーザーが品質管理を確実にし、問題を迅速かつ効率的にトラブルシューティングするのに役立ちます。全体として、RUDOLPH WV320は、より厳しい半導体プロセスに適した高度なマスクおよびウェーハ検査ツールです。堅牢な検査機能、自動化された設定可能な計測機能、強力な分析機能を備えています。したがって、生産歩留まりと品質管理を改善したいユーザーにとっては理想的な選択です。
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