中古品 RUDOLPH (マスク＆ウェーハ検査) を販売中

Rudolph Technologiesは、マスクおよびウェハ検査用の高度な半導体プロセス制御装置のグローバルメーカーです。マスクおよびウェーハ検査システムの範囲には、WV320、 NSX 105、およびWaferview 320などがあります。WV 320は、フォトマスクの小さな欠陥を検出するための優れた解像度と感度を提供する高度なマスク検査システムです。ブロードバンドUV検査技術と高度なアルゴリズムを組み合わせて、正確な欠陥分類と特性評価を提供します。WV320は、半導体製造における歩留まりの向上と信頼性の向上を保証します。NSX 105は、ウェーハの欠陥を検出および分類するために設計された高性能ウェーハ検査システムです。高度な光学技術と画像処理アルゴリズムを使用して、迅速かつ正確な検査結果を提供します。広い視野と高スループットを備えたNSX 105は、ウェーハ製造時の効率的な欠陥検出を可能にし、歩留まり損失を低減し、プロセス制御を改善します。Waferview 320は、包括的な欠陥レビュー機能を提供する汎用性の高いウェーハ検査システムです。明るいフィールドと暗いフィールドの検査技術を組み合わせ、欠陥のサイズ、形状、位置に関する詳細な情報を提供します。Waferview 320は、フロントエンドとバックエンドの両方のウェーハ検査に最適で、半導体製造プロセス全体で迅速かつ信頼性の高い欠陥検出を可能にします。全体として、Rudolphのマスクおよびウェーハ検査システムは、高度な技術、高解像度イメージング、および正確で効率的な欠陥検出のための堅牢なアルゴリズムを提供します。これらのシステムは、半導体メーカーが歩留まりを改善し、コストを削減し、プロセス制御を強化するのに役立ちます。