中古 RUDOLPH NSX 115 #9212440 を販売中

RUDOLPH NSX 115は、think-through optoelectronicソリューションのリーダーであるRUDOLPHのハイエンドマスクおよびウェハ検査装置です。NSX 115は、半導体業界の幅広い材料およびアプリケーションに重要な検査機能を提供します。高度なイメージング光学システムを使用して、デバイスの形状や欠陥の微妙な違いを0。2umまで検出します。RUDOLPH NSX 115は、検査プロセッサユニットとAccuVisionクラウド処理の2つの主要コンポーネントで構成されており、包括的な欠陥検出と分析機能を提供します。検査プロセッサマシンは、カメラ、データ処理ツール、およびデータ取得および処理タスクをサポートするその他のハードウェアコンポーネントを含む統合ハードウェアプラットフォームです。AccuVision Cloud Processingアセットは、リアルタイムの画像処理と機能抽出を可能にし、高度なアプリケーションニーズに対応します。NSX 115はハイエンドの生産ライン向けに設計されており、欠陥やパターン測定のために100％のウェーハとマスクを迅速かつ正確にスキャンできます。部品の重要寸法を正確に測定するための自動レーザー三角測定ツールを備えていますが、高精度アルゴリズムはマスクとウェーハの両方の表面に対して迅速かつ正確な欠陥検出と分類を実行します。RUDOLPH NSX 115の速度と精度の組み合わせは、動的データ分析機能によってさらに補完されます。このモデルは、複数の検査タイプを1つの分析に組み合わせることができ、チップメーカーのクライアントが生産プロセスの可視性と制御性を高めることができます。装置の詳細欠陥分析から収集されたデータは、統計的なプロセス制御モジュールに供給され、欠陥検出プロセスを効果的に合理化し、製造プロセスが顧客および業界標準に準拠していることを保証することができます。NSX 115は、技術的な機能とは別に、使いやすさを念頭に置いて設計されています。直感的なユーザーインターフェイスにより、オペレータのトレーニングが容易になり、システムがセットアップと校正時間を最小限に抑えて一貫した結果を生み出すことができます。さらに、セルフモニタリングとメンテナンス機能により、ユニットはピーク状態を維持し、中断を最小限に抑えてタスクを実行できます。全体として、RUDOLPH NSX 115は、半導体業界におけるマスクおよびウェーハ検査および分析のための包括的で信頼性の高いツールです。これにより、すべての生産ラインで最高の品質と精度を保証する高度なイメージングおよび分析機能をユーザーに提供します。NSX 115は、形状のチェック、エラーの検出、複雑な検査の実行など、強力で信頼性の高いソリューションです。