中古 ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 #9383425 を販売中

ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （ADVANCED METROLOGY SYSTEMS） AMS （AMS S） は、半導体及び関連業界で使用される薄膜、金属、金属、その他の基板材料材料材料の高精密着材料の高精細部の高精細部品を高精度測定・精度測定・精度測定・精密度のために最適化を実現する最先を実現するために最適化する最先端技術を する最先端技術を。IR3000は、厚膜または薄膜層の接触および非接触の両方の測定を提供し、円形や長方形などのさまざまなタイプの形状の測定を提供することができます。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3000は、高解像度顕微鏡とプロセスコントロールユニットを備えた統合された自動ウェーハおよび標本処理システムを備えており、完全に自動化された検査プロセスを提供します。合理化されたソフトウェアインターフェイスは、手動操作と自動化された操作の両方をサポートし、キャリブレーション、データ取得、データ分析、レポートなどの運用機能を備えています。IR3000は、厚さ、反射率、抵抗率、波面誤差の光学測定など、さまざまな自動測定機能も提供しています。AMS ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） は、高精度のオートフォーカスオプティクスを搭載し、最大6粒子/ mのフィーチャーサイズを正確に測定 ます。このユニットは、最小の機能を正確かつ繰り返し測定することができます。その洗練された光学マシンはまた、ディスクリートやビアなどのローカライズされた機能を測定するための強力な分析機能を提供します。IR3000は、140nm以上からの材料の配列の欠陥を検出し、画像の欠陥を検出することができる高出力レーザーイメージングツールを内蔵しています。その高度なイメージング機能により、ユーザーは微細なスケールで前例のないディテールを提供する構造のライブ（またはリアルタイム）原子画像の画像にズームすることができます。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3000は、クリーンな環境と汚染された環境の両方で一貫した均一なパフォーマンスを提供するように設計されています。その堅牢な設計は、過酷な環境条件で優れた性能を提供し、すべてのテストで最高品質の結果を保証します。その動的計測機能には、ミスアライメントの測定と定量、プロポーションの良い地形、極めて正確なプロファイル測定が含まれます。汎用性と信頼性の高いツールとして、AMS IR3000は、マイクロエレクトロニクス部品およびデバイスの研究および製造において正確で再現可能な測定を必要とする研究所、研究開発機関、企業にとって理想的な選択肢です。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS）は、様々な材料を高精度に測定し、顕微鏡の特徴を総合的に分析することができることから、半導体部品の厳密な分析と品質管理に最適なIR3000です。