中古品 ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) (マスク＆ウェーハ検査) を販売中

Advanced Metrology Equipment （AMS）は、半導体業界のマスクおよびウェーハ検査システムのリーディングメーカーです。その製品は、高品質の検査結果を保証する精度、スピード、高度なイメージング技術で知られています。AMSが提供するマスクおよびウェーハ検査ユニットは、高度な光学イメージング技術を使用して、可視スペクトルと赤外線スペクトルの両方のマスクおよびウェーハの欠陥を検出します。これらの機械は、マスクやウェーハの表面、エッジ、パターンを分析し、欠陥のない半導体デバイスの生産を保証するように設計されています。AMSマスクおよびウェハ検査ツールの主な利点は、高解像度イメージング、リアルタイム欠陥検出、高速スキャン機能、自動欠陥分類です。これらのアセットには、正確な欠陥検出を可能にし、誤検出を低減する高度なアルゴリズムと機械学習機能も装備されています。AMSマスクやウェーハ検査モデルには、IR3100モデルやIR3000モデルがあります。IR3100システムは、高解像度イメージングと強化された欠陥検出機能を備えているため、高度な半導体製造プロセスに適しています。一方、IR3000システムは高速スキャン機能とリアルタイム欠陥検出で知られており、大量の製造環境に最適です。全体として、AMSマスクおよびウェハ検査装置は、半導体メーカーに信頼性の高い効率的なソリューションを提供し、製品の品質と信頼性を保証します。