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FEI Expida 1265 #9314991

FEI

Expida 1265

Dual beam Focused Ion Beam (FIB) system, 12" TEM lamella preparation SEM Resolution: 5-7 nm Defect a
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FEI Expida 1265 #9194878

FEI

Expida 1265

Dual beam FIB, 12" Electron beam image resolution: 3 nm-5 nm Beam voltage: 1-30 kV Ion beam resolut
139
FEI Expida 1265 #9228102

FEI

Expida 1265

Dual beam FIB system, 12".
135
FEI Expida 1265 #9243139

FEI

Expida 1265

Dual beam FIB system, parts machine.
133
FEI Expida 1265 #9210949

FEI

Expida 1265

System.
170