中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-9200 #9234922 を販売中

SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-9200
製造業者
SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO
モデル
SFT-9200
ID: 9234922
ヴィンテージ: 2007
X-Ray plating thickness measurement system 2007 vintage.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-9200 X線装置は、小型物体の高精度イメージングと解析を目的とした先進的なナノテクノロジーシステムです。このユニットは、1ナノメートルまでの解像度で物体を撮影することができる細かく調整された真空チャンバーを使用しています。これにより、研究者は、破壊的な分析または顕微鏡技術を使用することなく、マイクロエレクトロニクス成分または化学化合物のナノスケールの特徴を観察し、分析することができます。この装置は、X線回折(XRD)、 X線蛍光(XRF)、 X線光電子分光(XPS)、 X線吸収分光(XAS)など、さまざまなX線画像技術を生成することができます。XRDイメージングでは、X線を用いて物体の結晶構造を測定し、XRFは物体の元素組成を明らかにします。XPSを用いて、試料中の個々の元素の酸化状態などの化学状態を調べることができます。最後に、XASは試料中の原子のX線吸収強度を測定することにより、材料の電子的および磁気的特性に関する詳細な情報を提供することができます。SEIKO SFT-9200では、均一な磁場や温度範囲でサンプルを3Dイメージングするなど、精密な非破壊画像・解析ツールも提供しています。高精度の傾きと回転機能とともに、このツールは0。1ミクロンの分解能でオブジェクトの詳細な画像を生成することができます。さらに、この資産は、サンプルに関する追加のデータを取得するために、光学および原子力顕微鏡(AFM)やスキャン熱顕微鏡(SMM)などの機器にリンクすることができます。SII NANOTECHNOLOGY SFT-9200 X線モデルは、材料科学、半導体製造、冶金、生物医学などのさまざまな業界で使用されています。例えば、材料科学では、高度な合金や材料の化学的および物理的性質の詳細な分析に使用することができます。半導体製造では、トランジスタやその他の集積回路の品質テストに使用できます。また、機械部品の製造に使用される金属の特性をテストするために冶金学で使用されています。最後に、非侵襲的で高解像度のイメージング機能により、コンピュータ断層撮影(CT)や顕微鏡などの医療画像技術に適しています。全体として、SFT-9200 X線装置は、正確で正確なイメージングと分析を行うことができる高度なナノテクノロジーツールです。X線イメージング技術の範囲は、その付加的な非破壊画像技術とともに、材料科学、半導体製造、冶金学、生物医学などの業界のさまざまなアプリケーションに適しています。
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