中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-3200 #9256600 を販売中

SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-3200
製造業者
SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO
モデル
SFT-3200
ID: 9256600
XRF Coating thickness system.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-3200は、SEIKOの強力で汎用性の高いX線装置です。これは、X線マイクロアナリシスのための高品質のイメージング機能の広い範囲を提供するように設計されています。コンパクトなサイズ、高速かつパワフルなX線源、使いやすいデザインで、SEIKO SFT-3200は幅広い用途に最適です。SII NANOTECHNOLOGY SFT 3200は、8。0mmx6。0mm X線源チャンバと2つの線分焦点X線ターゲットからなるソースアセンブリを備えています。ソースアセンブリはZ軸スリップステージに取り付けられており、水平、垂直、回転軸に沿って移動できます。また、低ノイズアンプと高利得インジウム酸化物およびペルティエ冷却システムを備えており、信号対ノイズ比を向上させています。SFT 3200のイメージングシステムは、ノイズを最小限に抑えた高品質の画像を提供するように設計されています。可変電圧X線発生装置、Z軸スリップステージ、2つの電動シャッター、および正確なフォーカシングと倍率に使用できる静電偏向ユニットが含まれています。このイメージングマシンは、広い視野、高いダイナミックレンジ、および特定のイメージング要件に合わせて調整できるさまざまなイメージングモードを備えた高解像度イメージングカメラを備えています。SFT-3200は、従来のX線システムよりも大幅に高速なX線マイクロアナリシスのための画像取得時間を可能にする、高速、ほぼ瞬時シャッタースピードを備えています。また、完全に統合されたソフトウェアパッケージが付属しており、さまざまなイメージングパラメータと分析機能を調整および監視することができます。このソフトウェアはまた、直感的なユーザーインターフェイスとさまざまなサイズと形状のイメージングサンプルのためのさまざまなイメージングオプションを提供します。SEIKO SFT 3200には、X線ビームの歪みを解消し、X線ソース-パレット距離の変化を補正する高度な収差補正ツールが搭載されています。このアセットにはオートフォーカスも内蔵されており、オペレータは高解像度と画像のコントラストを維持することができます。結論として、SII NANOTECHNOLOGYのSII NANOTECHNOLOGY SFT-3200は、X線マイクロアナリシスのための高品質のイメージングを提供する強力でユーザーフレンドリーなX線モデルです。コンパクトなサイズ、高速で強力なX線源、使いやすい設計により、さまざまな用途に最適ですが、高度な収差補正、オートフォーカス、イメージング機能により、正確で詳細なX線分析が可能です。
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