中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-3200 #9244280 を販売中

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-3200は、パッケージ化された電子部品の高精度なイメージングを破壊や損傷を引き起こすことなく提供するために設計された高圧X線装置です。このシステムは高解像度の3D画像を生成することができ、コンポーネントの内部構造とレイアウトを迅速かつ正確に可視化できます。このユニットは、従来の電子部品と新しい電子部品の両方を検査するために設計されており、さまざまなプロセスや基板と互換性があります。SEIKO SFT-3200は、高圧X線技術を活用し、ミクロンレベルの精度で画像をキャプチャします。X線源は、モリブデン製のセラミックアノードスライスで、ガスガンを使用して対象物に向かって推進されます。これにより、最大5ミリ秒の非常に短い露光時間が保証され、熱と障害による歪みのリスクが減少します。工作機械のイメージング距離は0〜5mmまで調整可能で、損傷を与えることなく高解像度のイメージングが可能です。SII NANOTECHNOLOGY SFT 3200は、機械インターロック、緊急停止ボタン、ハンドシェイクインターロックなど、オペレータを保護するための高度な安全機能を多数備えています。このアセットには、絶縁された高電圧電源、高感度EHT検出器、絶縁冷却モデルが装備されています。また、タッチパネルコントロールとグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、迅速かつ簡単に操作できます。また、オートフォーカス検出、オートキャリブレーションシステム、エッジ認識ユニットも備えています。SEIKO SFT 3200は、画像を評価して信頼性の高い精度を保証する高精度解析ルーチンを備えています。ダイサイズ、パッケージサイズ、はんだ接合部、ワイヤーサイズ、はんだマスク特性、その他の精密分析のための要素など、画像の任意の数の機能を分析することができます。このツールの統合ソフトウェアにより、ユーザーは将来の参照のために画像結果を分析、レビュー、保存し、分析の前後のデータを比較することができます。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT 3200は、精密部品、コネクタ、パッケージを含む最大10mm x 10mmのオブジェクトを検査するために使用できます。このアセットは、回路基板やその他の電子部品の高精度イメージング、ならびに様々な研究、開発、検証、検査アプリケーションに最適です。その高度なイメージングおよび検出機能により、エレクトロニクス製造およびコンポーネント診断にとって非常に貴重なツールとなります。