中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO FT110 #293587917 を販売中
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ID: 293587917
XRF Analyzer
Atomic absorption spectrophotometer
Field emission scanning electron microscope
Energy dispersive X-Ray fluorescence analyzer
TMA7100 Thermo mechanical analyzer
Thermal ionization mass spectrometer
EA8000 X-Ray foreign body analyzer
CMI165 Surface copper thickness gauge
Spectrum 2 Platinum elmer infrared spectrometer
OMEGAMETER 650SMD Ion pollution tester
DAGE Quadra 5 X-Ray detection system.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO FT110は、高度な技術を駆使した高精度なX線イメージングを提供するX線装置です。このX線システムを使用すると、対象物の詳細な3次元画像をキャプチャできます。SEIKO FT110は、デジタルX線源、デジタル信号プロセッサ、イメージングソフトウェアで構成されています。X線源は、X線を放射するX線チューブと、X線をターゲットに向けるために使用されるコリメータの2つのコンポーネントで構成されています。シグナルプロセッサは、X線信号を処理可能なデジタル信号に変換する責任があります。イメージングソフトウェアは、対象物の立体像を再構築するために使用されます。このX線ユニットの主な利点は、広い視野、高解像度、高解像度の画像をリアルタイムでキャプチャする機能です。広い視野を使用すると、大きなオブジェクトや複雑な構造の画像を一気にキャプチャできます。高解像度により、ナノメートルスケールまでの詳細を識別できます。さらに、リアルタイムイメージングにより、データをより迅速に分析できるため、時間を節約できます。イメージング機能に加えて、SII NANOTECHNOLOGY FT110には統合解析ソフトウェアも搭載されています。このソフトウェアは、ユーザーがマシンで生成された画像を分析することができます。解析ソフトウェアには、部品の寸法測定、構造間距離の計算、欠陥や欠陥の特定などの機能が含まれます。FT110はまた非常に構成可能で、個々の必要性に容易に合わせることができます。ハードウェアとソフトウェアコンポーネントの両方に幅広いオプションを提供しています。これにより、ユーザーはニーズと予算に合わせてツールをカスタマイズできます。全体として、SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO FT110は、優れた精度と高解像度のイメージングを提供する高度なX線アセットです。統合解析ソフトウェアにより、テスト部品や品質管理などのアプリケーションに最適です。
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