中古 RIGAKU TXRF 3750 #9197144 を販売中

RIGAKU TXRF 3750は、幅広い濃度にわたるサンプルの定量的および半定量的元素分析用に設計された、全反射X線蛍光（TxRF）分析装置です。これは、サンプルのスループットを最適化し、さまざまなサンプル行列で信頼性の高い結果を提供するように設計された信頼性の高い効率的なツールです。このシステムは、低騒音で窓のない設計で、1日あたり最大400サンプルの高スループットを実現しています。TXRF 3750は、検出可能な最高レベルから低い濃度レベルまで、6つの範囲で最大25の要素を持つサンプルを測定できます。RIGAKU TXRF 3750は、X線を生成する高周波源を持っています。試料表面からのX線の総反射は、試料の電子を励起してイオン化するために使用され、二次X線を放出することができます。次に、サンプルの元素組成を決定するために、二次X線を測定し、単位で分析します。このマシンはまた、X線の性能に対するフィードバックを最適化するように設計されています。フィードバック機能は、必要に応じてパフォーマンスを調整および改善するためのユーザーフレンドリーなプラットフォームを提供します。堅牢な光学部品と透明な石英サンプルホルダーは、さまざまな形状のサンプルを正確に分析します。この解析は、多元素計算、半定量モード、自動サンプル識別オプション、分解計算などの機能を備えたRIGAKUが開発したソフトウェアを通じて追跡可能です。統合されたPCはまた直感的で使いやすいタッチスクリーンインターフェイスを提供します。さらに、このツールはメンテナンスフリーに設計されており、オンボードモニタリング資産とハードウェアによるメンテナンス間隔があります。これにより、TXRF 3750は最高レベルのパフォーマンスで動作します。また、2500ワード/秒の処理速度で、迅速かつ効率的に実行できるように設計されています。さらに、この装置は危険な環境で動作するように設計されており、ガスフィルターシステムが内蔵されており、分析エリアを空中粒子から安全に保つことができます。全体として、RIGAKU TXRF 3750は高度で汎用性が高く信頼性の高い分析ユニットです。ウィンドレス設計、高スループット、柔軟性により、シンプルなサンプルから複雑なサンプルまで、幅広い要素解析アプリケーションに非常に適しています。