中古 RIGAKU TXRF 3750 #9097604 を販売中

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製造業者
RIGAKU
モデル
TXRF 3750
ID: 9097604
ヴィンテージ: 2007
X-Ray fluorescence system With rotating anode target Helium compressor: CNA-21 Chiller: LN2-DIW X-Ray generator Power box Sweeping mode on wafer: Yes W-M and W-Lb: 15 mm From edge H.E.: 25 mm From edge SSD Equipped Spectrum: Failure 2007 vintage.
RIGAKU TXRF 3750は、様々な材料における微量元素組成の測定用に開発されたX線蛍光解析装置です。これは、X線管とシリコンドリフト検出器の組み合わせによって優れた性能を提供します。このシステムで使用されるX線チューブは、サンプルの原子を効率的に励起するためにX線の強いビームを生成します。生成されたX線は、シリコンドリフト検出器によって検出され、優れた性能とエネルギー範囲全体にわたって優れた精度を提供します。この設計により、精度と再現性が大幅に向上します。TXRF 3750は、X線放射のピーク制御のための正確なX線パルスのタイミングと持続時間を生成する強力な完全デジタルパルス発生ユニットを中心に装備されています。この機能は、サンプルホルダーの改良されたX線管および真空設計と組み合わされて、高感度で正確な分析再現性を保証します。サンプルホルダーは、正確なサンプル位置決めとサンプルステージ温度制御のための寛大なサンプル間隔を提供し、サンプルを分析するための最高のX線放射と検出条件を確保します。TXRFマシンは、複数の要素分析機能も提供します。マルチエレメント測定機能により、バッチ生産を簡素化し、さまざまな要素要件と異なる濃度レベルの多数のサンプルを迅速に分析できます。最大6つの要素を同時に分析できるため、分析に優れた制御が可能です。このツールは、すべての実験パラメータを完全に制御するための強力なデータ収集ソフトウェアを統合しています。ユーザーは、さまざまなプリセット分析プログラムから選択したり、特定の分析ニーズに合わせてカスタマイズしたりできます。ソフトウェアを使用すると、分析中にサンプルを監視し、安定した要素濃度を変更し、過熱保護でサンプル温度を制御することができます。ソフトウェアはまた、改善されたデータ処理と処理のための完全なライブラリとパラメータ保存機能を提供しています。最終的に、RIGAKU TXRF 3750は既存の生産ラインに容易に統合でき、微量元素分析と製造製品の品質管理のための信頼性の高い正確な資産をユーザーに提供します。全体として、TRFモデルは正確な性能、信頼できる結果を提供し、ユーザーの要件を満たすように調整することができます。
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