中古 RIGAKU MFM65 #293802352 を販売中

RIGAKU MFM65は、高度な材料分析アプリケーションで使用するために設計された高度なX線装置です。超高解像度の測定が可能な強力なマイクロフォーカスX線源をベースとしています。このシステムは、エレメントマッピング、薄膜解析、小粒子解析、残留応力マッピング、位相同定、X線回折などの研究および産業用途に使用するために設計されています。マイクロフォーカスX線源は、多層白色光学ユニットと組み合わせて動作します。この設計により、スポットサイズが100〜200ミクロンの高束束の平行ビームを生成することができます。機械の高いダイナミックレンジは、ベリリウムからウランまでの原子数に及ぶ元素の検出を可能にします。RIGAKU MFM 65はまた、ポストプロセスソフトウェアでさらに改善することができ、両方向に1〜2ミクロンの非常に高い位置分解能を持っています。このツールはまた、業界をリードする40cm2の画像領域を備えており、精度を向上させた大型サンプルの完全自動解析を可能にします。アセットのクラスをリードするモノクロメータは、超高解像度イメージングと定量要素マッピングも可能です。さらに、強力なスポットオン機能により、小粒子の迅速な定性的および定量的分析が可能になります。MFM65はまたユーザーフレンドリーな操作のために設計されています。このモデルは、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス、統合されたX線データ収集、および制御、および高度なデータ操作および分析を備えています。この機器は、さまざまな外部および後処理ツールとも互換性があり、ユーザーはデータについてより深い洞察を得ることができます。MFM 65は、さまざまな産業および研究用途向けに設計された強力で汎用性の高いX線分析システムです。高性能マイクロフォーカス源とフレキシブルオプティクスユニットは、強力で信頼性の高いX線マシンをお探しのお客様に最適です。