中古 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #9211899 を販売中

PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830は、産業用途向けに設計されたX線回折計装置です。このシステムは、ポリマー、多結晶、単結晶、さらにはガラスなど、幅広い種類のサンプルを分析することができます。その高い輝度X線源と柔軟な検出器オプションは、迅速かつ正確な測定を提供します。このユニットは、X線源、サンプルホルダー、ムーブメントマシン、測定塔、検出器など、いくつかのコンポーネントで構成されています。X線源は高輝度モリブデン陽極X線管であり、可変強度X線放射を提供することができます。サンプルホルダーはサンプルを確実に固定し、ムーブメントツールはサンプルの回転と角度移動を可能にします。測定塔には、X線の放射線をろ過して測定するX線源、検出器、モノクロメーターが設置されています。PHILIPS PW 2830は、検出器とその配置に関してカスタマイズ可能です。オプションには、Peltier冷却シリコンストリップ検出器またはシンチレーション検出器の配列と、真空中の光学系や調整可能なコリメーションなど、他の必要なハードウェアが含まれます。また、サンプル環境チャンバーとマルチサンプルホルダーを提供して、空気中や真空中の高温測定を含む、さらなるカスタマイズを提供します。PANALYTICAL PW 2830のサンプル分析は簡単かつ迅速です。サンプルをサンプルホルダーに配置し、検出器を選択して取り付けたら、スキャンパラメータを設定して測定を開始します。データはリアルタイムで収集され、相対強度のプロット、ピーク位置、ピーク強度や背景形状など、さまざまな方法で分析できます。PW 2830上のサンプルの分析から生成された数値を使用して、テストされている材料の物理的および化学的特性を調べることができます。高品質のデータとユーザーフレンドリーなプログラミングを組み合わせたこのX線回折計は、幅広い産業用途に最適な資産です。