中古 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #9209447 を販売中

PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830は、産業用アプリケーションで障害や欠陥を検出するために広く使用されているX線システムです。このデバイスは非常に高い解像度を提供し、最小の障害を検出することができます。幅広い用途に対応し、非金属材料の解析だけでなく、欠陥検出にも使用できます。PHILIPS PW 2830は、ソースユニット、検出ユニット、制御ユニットで構成されています。ソース・ユニットには、X線ソースとチューブ、真空ポンプ、電源、冷却ファン、およびデバイスの動作を制御するPCBが含まれています。このユニットはまた、X線パルスのエネルギーと持続時間を調節することができ、それによって最適な結果を得ることができます。検出ユニットは、ソース・ユニットによって生成されたX線を検出するために使用されます。X線を可視光に変換するシンチレーションスクリーンと、この光を捉えるCCDカメラで構成されています。検出器ユニットは、制御コマンドとデータの転送を可能にするケーブルを介して制御システムに接続されています。制御ユニットは、ソースと検出器のユニットを制御するだけでなく、検出されたX線信号をデジタル画像に変換するための責任があります。PANALYTICAL PW 2830は、25 µm以上の非常に高解像度を提供し、最小の障害や欠陥を検出することができます。0。8mm〜150mmまでのサンプル検査が可能です。このデバイスは、最大3つのサンプルを同時に分析するために使用することができ、高速で低ノイズ動作のために設計されています。また、ウェーブレット変換やイメージエンハンスメントフィルタなどの高度な信号処理技術を搭載しており、最小の欠陥も検出できます。さらに、PW 2830は直感的なソフトウェアインターフェイスで設計されており、操作を簡単にし、露出時間、フィルム加工設定、画像強化フィルタなどのパラメータを迅速かつ簡単に調整できます。PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830は、業界で幅広い用途を持つ信頼性と汎用性の高いX線装置です。高解像度で高速な動作により、金属材料と非金属材料の両方の欠陥や欠陥を検出するのに理想的なツールです。