中古 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #293652326 を販売中

PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830は、実験室の構造解析用に設計されたX線回折計装置です。多目的機器であり、定性的、定量的、および詳細な構造解析を含む幅広い用途を可能にします。PHILIPS PW 2830は、ソース、サンプルチャンバー、モノクロメータ、検出器、および関連する電子機器で構成されています。X線源は、電子電源によって駆動されるX線管で構成されています。X線管の高電圧電源は最大40kVまで設定でき、通常25kVで動作します。ソースは1-2。5 mradの発散ビームを生成するためにコリメートされ、ビームプロファイルは所望の解像度を与えるために調整可能です。サンプルはサンプル室に配置され、X線ビームにさらされます。チャンバーには、サンプルを配置するための電動マニピュレーターが装備されています。サンプルは、ほとんどすべての構成で指向することができ、さまざまな種類の結晶構造を調べることができます。モノクロメータは、X線ミラーとエネルギーフィルターで構成されています。X線ミラーは、入射X線ビームを反射し、それをサンプルに向ける。エネルギーフィルタは、迷走X線を除去し、所望のX線エネルギーを選択するために使用されます。モノクロメータはまた、ビームの調整可能なコリメーションを提供し、回折パターンの解像度を向上させることができます。PANALYTICAL PW 2830システムの検出エレクトロニクスは、検出器、アンプ、パルスシェーピング回路で構成されています。検出器は半導体であり、通常は透過表面を持つシリコンベースのデバイスです。アンプは検出器の感度を高めるために使用されます。パルスシェーピング回路は、検出器の信号を調節し、関連する信号だけがデータ収集ユニットに渡されるようにするために使用されます。PW 2830マシンは、機内、オフプレーン、飛行時間など、さまざまな種類の回折を実行することができます。さらに、PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830は、単結晶トレース図やDebye-Scherer図など、さまざまなグラフを生成できます。このツールにはソフトウェアも装備されており、データ処理と分析が可能です。全体として、PHILIPS PW 2830は、研究室の結晶構造の研究に広く採用されている強力で信頼性の高いX線回折計資産です。比較的短時間で高品質な結果を得ることができ、このような調査を支援するさまざまな機能を備えています。