中古 PANALYTICAL XPert Pro #9288506 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 9288506
ヴィンテージ: 2003
X-Ray Diffractometer (XRD)
Incident beam: Prefix hybrid monochromator
Diffracted beam: Triple Axis / Rocking Curve (TA/RC) attachment
2003 vintage.
PANALYTICAL XPert Proは、元素分析とマイクロケミカルイメージング用に設計された強力なX線システムです。これは、独自のソフトウェアとハードウェアとともに、高度なX線蛍光(XRF)技術を利用しています。PANALYTICAL X 'PERT PROは、X線ソース、サンプルホルダー、検出器の3つの主要コンポーネントで構成されています。X線源は多層型のX線チューブで、試料を対象とした様々なエネルギーのX線を生成するために使用されます。サンプルホルダーは、X線源と検出器の相対的な位置を正確に調整するように設計されています。検出器はエネルギー分散型のSi-Liセンサーで、サンプルを通過した後に放出されたX線のエネルギーを検出して測定します。これらのコンポーネントはすべて、組み込みのLinuxオペレーティングシステムによって制御され、X線データを分析してわかりやすいグラフィカル形式でレポートするためのソフトウェアも内蔵されており、ユーザーがデータをカスタマイズすることができます。X-PERT PROには、定性的および定量的元素分析、微量元素分析、光元素解析、有機、有機無機、無機化合物の検出と同定能力など、多くの分析技術も含まれています。アルファ粒子とベータ粒子の区別も可能で、試料中の重金属の挙動を調べることができます。X 'PERT PROは、さまざまなコントラストオプションを備えた高解像度画像や元素マップを生成することができます。また、表面プロファイリング、薄膜解析、小型粒子やナノ粒子のイメージングなど、幅広い用途に使用できます。全体として、XPert Proは、正確な元素分析、マイクロケミカルイメージング、および表面プロファイリングを提供することができる強力で汎用性が高く、使いやすいX線システムです。さまざまな業界の幅広いアプリケーションに最適な選択肢であり、正確なデータに基づいて情報に基づいた意思決定を行うことができます。
まだレビューはありません