中古 PANALYTICAL XPert Pro #293645096 を販売中

PANALYTICAL XPert Proは最先端のX線装置であり、正確な元素定量化とマッピングのための高度なX線回折計技術を提供しています。PANALYTICAL X 'PERT PROは、正確に整列されたX線ビーム、最高級の光学部品、最新の検出器および画像処理技術を組み合わせています。これにより、X線反射測定、X線回折（XRD）、 X線蛍光（XRF）など、さまざまな材料解析アプリケーションで優れたX線性能と信頼性の高い結果が保証されます。X-PERT PROは、カスタマイズされたX線管設計と信頼性の高いサーボシステムの恩恵を受け、安定した堅牢な10kV/20mA X線源を備えており、X線管の正確な位置決めと露出制御を提供します。X線ビームの使用率をさらに向上させるために、スキャンと露光ミラーの独自のアプリケーションを使用して、ビームを静的中心位置から所望の分析領域にシフトさせます。これは、特に高エネルギーX線用途において、露出の均一性を最大化するのに役立ちます。さらに、X線結晶構造を最適化するためのPANALYTICALの先進的なアプローチにより、ユニットの性能を向上させます。これには、光学部品をX線管および検出器に正確に整列させるためのマイクロエンジニアリング技術の実装が含まれます。これにより、解像度が向上し、信号強度が向上し、ノイズが低減されます。PANALYTICAL X-PERT PROには、リアルタイム元素定量、マッピング、XRD解析用の優れた低ノイズ検出器も組み込まれています。これにより、迅速なサンプル測定と長時間のアンケートの両方に関連するアプリケーションに優れています。さらに、XRF検出器には、光分光計とさまざまなアクセサリを装備することができ、業界で現在使用されている全範囲の要素を含むサンプルを測定することができます。XPert Proは、PANALYTICAL独自のXPert XRDおよびXRFスイートなど、さまざまなソフトウェアソリューションとインタフェースできます。このソフトウェアには、一連のデータ分析ツールと組み合わせてデータを分析する機能もあります。さらに、X 'PERT PROは、Origin、 Topas、 Covelなどの他のサードパーティのデータ分析ソフトウェアとも互換性があります。全体として、PANALYTICAL XPert Pro X線ツールは、要素のフルレンジを含むサンプルの分析に最適です。優れたX線性能と優れた低ノイズを有し、正確な要素の定量化とマッピングを提供します。さらに、幅広いアクセサリー、ソフトウェアソリューション、さまざまな業界アプリケーションでの優れた結果を備えたPANALYTICAL X 'PERT PROは、あらゆる材料分析ラボにとって貴重なツールです。