中古 PANALYTICAL PW 1480 #293631546 を販売中

PANALYTICAL PW 1480は、材料科学の研究者を支援するために設計されたX線装置です。それは材料の微細構造および形態学的特性を特徴付けるのに使用される多目的で、高性能システムです。このユニットは、X線回折法に基づいており、単色CuK α X線源と2軸の運動を持つゴニオメーターを組み込んでいます。このマシンには、回折データをキャプチャする高解像度のCCDカメラが含まれています。このツールは、金属、合金、プラスチック、セラミックス、半導体およびその他の材料を含む幅広い材料の分析を行うことができます。これにより、研究者は結晶相の組成を定量的かつ定量的に決定するとともに、粒度や質感などのその他の微細構造特性を測定することができます。さらに、Lytle-type Bragg-Brentano （BB）ジオメトリなどの特殊な結晶を使用することで、資産の分析能力を拡張することができます。これにより、マイクロストレイン、ひずみ勾配、点欠陥、さまざまな材料の不純物など、さまざまな効果を研究することができます。このモデルは、幅広いサンプル調製技術と、ユーザーのニーズを満たすために検出器とポートの選択をカスタマイズする機能をサポートしています。約100万個の元素を検出するために使用できる固体検出器を備え、蒸発検出器を使用して微量の成分を測定することができます。この機器には、実験中に収集されたデータの分析と解釈を可能にするソフトウェアスイートも含まれています。これには、さまざまな分析アルゴリズムと、研究者が結果を表示できる可視化ツールが含まれます。全体として、PW 1480は高度で汎用性の高いX線システムであり、研究者はサンプルを微細構造レベルまで特徴付けることができます。様々な材料を分析し、幅広い特性を測定することができます。さらに、独自のソフトウェアと専用の結晶により、マイクロストレイン、ひずみ勾配、点欠陥、不純物などの分野に研究を拡大することができます。