中古 PANALYTICAL Epsilon 5 #9384266 を販売中
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ID: 9384266
ヴィンテージ: 2010
X-Ray Diffractometer (XRD)
High precision micro analysis
Large synchrotron radiation
EDWARDS Pump
CANON Printer
PW 5000/00 Body
DELL Optiplex 780 CPU
DELL E190Sb Monitor (TFT 17")
Operating system: Windows XP
Power supply: 200 V, Single phase
2010 vintage.
PANALYTICAL Epsilon 5は、研究、産業、教育市場向けに設計された最先端のX線回折装置です。結晶学などの材料科学用途に広く使用されており、材料の位相同定や定量的位相解析などの多くの用途に適しています。このシステムには、高度なX線管、PANALYTICAL PIXcel検出器、およびDiffractOSソフトウェアが装備されています。このX線チューブは0。1〜100kWの調整可能な強度範囲を可能にし、多種多様なX線回折測定に適しています。PIXcel検出器は、回折角度に沿ってX線光子の角度位置を登録することができる高度で高分解能の位置感度検出器です。DiffractOSソフトウェアは、マシンの制御ユニットであり、ユーザーが正確にツールパラメータを制御することができます。イプシロン5は、直径10mmまでのサンプル用のスリットサンプルホルダーを備えたサンプリングアセットを使用して、幅広いX線測定を可能にします。さらに、粉末回折、ロッキングカーブ測定、プロファイル測定にも使用できます。このモデルには、小さなサンプルの小さな発散と高いフラックスを可能にする交換可能なコリメータ装置が装備されています。PANALYTICAL Epsilon 5は、研究および産業アプリケーションの両方に高品質のデータを提供することができ、位相同定、定性組成試験、およびX線結晶学を含む多くのアプリケーションに適しています。このシステムは、結晶やアモルファス材料を特徴付ける能力を持ち、水素結合、酸化状態、および不純物を特徴付ける能力を持っています。また、ハイエンドのデータ収集・解析機能を備えており、高度な測定・解析に最適です。高速なデータ取得、直感的なデータ分析、高度な3Dビジュアライゼーションを備えています。さらに、Whole Pattern RefinementやLebail Refinementなどの高度な解析ツールを使用できます。全体的に、イプシロン5は、幅広い用途を持つ高度なX線回折計です。研究と産業の両方で高品質のX線測定に必要なすべてのコンポーネントと機能を備えています。ユーザーフレンドリーで、高度なデータ収集と分析機能により、さまざまなアプリケーションに適しています。
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