中古 OMEGA TXRF #293629156 を販売中

OMEGA TXRF （Total Reflection X-ray Fluorescence）は、試料表面の元素および/または分子組成に関する情報を得るためにX線ビームの全外反射を用いた分析技術の一種です。従来のX線蛍光法に比べてその主な利点は、サンプルを粉砕する必要がないため、サンプル調製がはるかに簡単であることです。その代わりに、X線ビームがサンプル表面に集中し、その表面から完全に反射され、できるだけサンプル表面の近くにある検出器を通過します。全反射X線のエネルギーを測定し、光元素検出を適用することで、試料表面の材料の濃度や元素組成を再構成することができます。TXRFは、考古冶金学、化学および食品分析、産業金属学、環境分析および医学研究などの分野で多くのアプリケーションを持っています。OMEGA TXRFの背後にある技術は、X線源とX線検出器で構成されています。TXRFで使用されるX線源は、通常、密閉されたチューブまたは回転陽極のいずれかです。X線を異なるエネルギーで放出し、特定の要素や材料の種類を選択して分析することができます。X線検出器は、全反射から入るX線を処理し、エネルギースペクトルと呼ばれるグラフを生成します。このエネルギースペクトルは、サンプルの元素組成とともに、反射放射に含まれる情報を解釈するために使用されます。OMEGA TXRFシステムの感度のレベルは、背景減算と呼ばれるプロセスによって増加します。これは、試料表面に基準試料を投影し、基準材料を通過する反射X線のエネルギースペクトルを測定することによって行われます。次に、これらのエネルギースペクトル数はサンプル表面のエネルギースペクトルから減算され、表面組成の解釈が強化されます。これは、サンプル中の微量元素と濃度を識別するのに役立ちます。TXRFは、比較的高速な結果、正確な定量化、および多くの種類のサンプルとの互換性を提供することにより、環境への支援を提供します。また、土壌または水のサンプル中の汚染物質または汚染物質を識別するために使用すると、高速かつ正確なツールです。全体的に、OMEGA TXRFは、サンプル表面の元素または分子組成を決定するために使用される強力で高速かつ正確な分析技術です。この技術は幅広い用途を持ち、研究、産業、環境分析に使用されています。