中古 MALVERN / PANALYTICAL Mastersizer 2000 #293794933 を販売中

MALVERN/PANALYTICAL Mastersizer 2000は、さまざまな産業および研究用途における粒子サイズ解析用に設計された洗練されたX線装置です。この高性能装置は、X線回折技術を利用して、分散システムにおける粒子のサイズ分布を正確に測定します。MALVERN Mastersizer 2000は、試料中の粒子からのX線の散乱を解析することにより、固体粒子と液体粒子のサイズ、形状、分布などの特性に関する貴重な洞察を提供します。PANALYTICAL Mastersizer 2000の中心には、調査中のサンプルに向かって高エネルギーのX線ビームを放射する強力なX線ソースがあります。X線はサンプル中の粒子と相互作用し、放射線を散乱させて回折させます。散乱されたX線は、サンプルに対して特定の角度に配置された検出器によって収集され、散乱された放射線の強度と分布を測定することができます。粒子サイズ解析にX線技術を使用することの重要な利点の1つは、粒子サイズの広い範囲にわたって高精度で再現性の高い結果を提供することです。Mastersizer 2000は数ナノメートルから直径数百マイクロメートルまでの粒子を測定できるため、医薬品、セラミックス、ミネラル、食品加工など幅広い用途に適しています。MALVERN/PANALYTICAL Mastersizer 2000は、複雑な粒子形状や組成のサンプルでも、散乱したX線の正確な測定を保証する高度な光学および検出器を備えています。また、迅速な測定が可能なため、複数のサンプルを短時間で高スループットで分析することができます。MALVERN Mastersizer 2000の主な特徴は、ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスで、機器を直感的に制御し、簡単なデータ分析と解釈を可能にします。このソフトウェアを使用すると、測定パラメータのカスタマイズ、分析中のリアルタイムデータの表示、サンプル内の粒度分布の詳細なレポートの生成が可能になります。PANALYTICAL Mastersizer 2000は、粒子サイズ解析に加え、高度なデータ処理アルゴリズムにより、粒子形状や表面積に関する貴重な情報を提供することができます。X線散乱のパターンを解析することで、粒子の物理的および化学的性質を理解するために重要なアスペクト比、球面率、特定の表面積などのパラメータを計算することができます。全体として、Mastersizer 2000は、粒子サイズ解析のための強力で汎用性の高いX線装置であり、幅広い産業および研究環境で高精度、高精度、および信頼性を提供します。MALVERN/PANALYTICAL Mastersizer 2000は、高度な技術とユーザーフレンドリーなインターフェースにより、さまざまな業界の粒子の特性評価とプロセスの最適化に不可欠なツールです。