中古 MALVERN / PANALYTICAL Empyrean #293736153 を販売中

MALVERN/PANALYTICAL Empyrean X線装置は、高度なX線回折（XRD）およびX線蛍光（XRF）測定用に幅広い用途で設計された最先端の分析機器です。最先端の技術と汎用性を備えたMALVERN Empyreanシステムは、材料の構造的および要素的特性に関する貴重な洞察を研究者、科学者、およびエンジニアに提供します。PANALYTICAL Empyreanユニットの主な特徴の1つは、ユーザーが特定の分析ニーズに合わせて機器をカスタマイズできるモジュラー設計です。このマシンには、銅（Cu）、コバルト（Co）、クロム（Cr）チューブ、高輝度マイクロフォーカスX線源など、さまざまなX線源を装備することができます。この柔軟性により、定期的な位相同定や定量化から高強度と解像度を必要とするより専門的な解析まで、XRDとXRFの幅広い実験を行うことができます。Empyreanツールは、正確で再現性の高いサンプルの位置決めと操作を可能にする高精度のゴニオメーターを備えています。このゴニオメータは、theta-thetaとtheta-2thetaの両方の構成が可能で、さまざまな回折形状と測定を柔軟に実行できます。さらに、構成可能な光学、検出器、およびフィルタを備えた高度な光学モジュールを備えており、さまざまなタイプのサンプルやアプリケーションに最適なパフォーマンスと感度を保証します。XRD測定の場合、MALVERN/PANALYTICAL Empyreanモデルはシンチレーションカウンタ、半導体検出器、ソリッドステート検出器など、幅広い検出オプションを提供します。これらの検出器は優れたエネルギー分解能と感度を提供し、ユーザーは微量の結晶相やサンプルの構造欠陥を検出して分析することができます。また、電動サンプルチェンジャーや各種サンプルホルダーを搭載し、複数のサンプルの自動・高スループット解析が可能です。XRF機能の面では、MALVERN Empyreanシステムは、チューブアノードと背面反射ターゲットを含む複数の励起源と、マイクロ蛍光アプリケーション用の高輝度X線管を備えています。これにより、光から重元素まで幅広い要素を網羅し、高精度・高感度で元素解析を行うことができます。また、量的分析、ピークデコンボリューション、ピークフィッティングなどのデータ処理および分析用の高度なソフトウェアを提供し、複雑なサンプルの正確で信頼性の高い結果を保証します。全体として、PANALYTICAL Empyrean X線機械は、最先端の技術と比類のない汎用性と柔軟性を組み合わせた強力な分析ツールです。Empyreanツールは、日常的な材料特性評価を行うか、複雑な研究課題に取り組むかにかかわらず、幅広い材料の組成、構造、特性に関する貴重な洞察を得るために必要なツールをユーザーに提供します。モジュラー設計、高度な機能、ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェースを備えたMALVERN/PANALYTICAL Empyrean Assetは、さまざまな科学および産業分野におけるXRDおよびXRF分析のための汎用性と信頼性の高いソリューションです。